[发明专利]BIST逻辑电路、低功耗芯片、存储器的测试方法及电子设备

摘要

本申请提供一种BIST逻辑电路、低功耗芯片、存储器的测试方法及电子设备，该用于对低功耗芯片中的存储器进行测试的BIST逻辑电路包括控制单元、测试单元，控制单元在接收到测试激励信号时生成用于表征待测试步骤的测试状态信号，输出至测试单元；测试单元用于在上电后根据测试状态信号生成用于表征待测试步骤时序的时序状态信息，并根据时序状态信息对存储器执行所述待测试步骤。由设置在常开区域的控制单元处理测试状态信号，在低功耗模式下，控制单元持续处于上电状态、测试单元不耗电，能够保存测试状态信号，测试单元能够根据测试状态信号继续执行测试，在保证能够进行低功耗测试的同时，极大的降低了芯片在低功耗模式下的功耗。

主权项

一种用于对低功耗芯片中的存储器进行测试的BIST逻辑电路，所述低功耗芯片的电源区域包括常开区域Always on domain和可通断区域Power down domain，所述存储器设置在可通断区域，其特征在于，所述BIST逻辑电路包括：设置在常开区域的控制单元和设置在可通断区域的测试单元；所述控制单元用于接收外部设备发送的测试激励信号，并根据所述测试激励信号生成用于表征待测试步骤的测试状态信号，输出至所述测试单元；所述测试单元用于在上电后根据所述测试状态信号生成用于表征待测试步骤时序的时序状态信息，并根据所述时序状态信息对所述存储器执行所述待测试步骤。