[发明专利]一种芯片电路信息观测方法和装置

摘要

本发明提供了一种芯片电路信息观测方法和装置，通过模式配置电路配置芯片当前的工作模式，当芯片处于测试模式时，第一存储模块存储功能模块之间的信号信息；当芯片处于采样模式时，处理单元将信号信息从第一存储模块中转移存储至该第一存储模块对应的第二存储模块中；当芯片处于输出模式时，处理单元控制时钟生成单元产生时钟，并根据产生的时钟频率将第二存储模块中的信号信息通过芯片引脚依次输出。本发明可以使得芯片电路中各个功能模块之间的信号信息变得可视化，有利于技术人员快速找出芯片电路存在的问题，有效提高了测试效率。

主权项

1.一种芯片电路信息观测装置，其特征在于，所述装置包括模式配置电路、功能电路、第一存储单元、第二存储单元、时钟生成单元、处理单元、芯片引脚；所述第一存储单元和第二存储单元连接；所述处理单元与第一存储单元、第二存储单元、时钟生成单元、模式配置电路均连接；所述第二存储单元与芯片引脚连接；所述第一存储单元包括一个或多个第一存储模块，所述第二存储单元包括一个或多个第二存储模块，每一个第一存储模块对应一个第二存储模块，第一存储模块与其对应的第二存储模块之间连接；所述功能电路包括至少两个功能模块，两个存在信号交互的功能模块之间均设置有第一存储模块；所述模式配置电路用于接收处理单元发送的模式配置信号，并根据配置信号配置芯片当前的工作模式，所述工作模式包括测试模式、采样模式和输出模式；当芯片处于测试模式时，所述第一存储模块用于存储功能模块之间的信号信息；当芯片处于采样模式时，所述处理单元用于将信号信息从第一存储模块中转移存储至该第一存储模块对应的第二存储模块中；当芯片处于输出模式时，所述处理单元用于控制时钟生成单元产生时钟，并根据产生的时钟频率将第二存储模块中的信号信息通过芯片引脚依次输出。