[发明专利]位置校正方法和系统有效
申请号: | 201710546054.1 | 申请日: | 2017-07-06 |
公开(公告)号: | CN107456235B | 公开(公告)日: | 2021-03-05 |
发明(设计)人: | 赵健;吴国城;徐保伟;王希;梁国栋;李楠 | 申请(专利权)人: | 东软医疗系统股份有限公司 |
主分类号: | A61B6/00 | 分类号: | A61B6/00;A61B6/03 |
代理公司: | 北京博思佳知识产权代理有限公司 11415 | 代理人: | 林祥 |
地址: | 110167 辽宁*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本申请提供一种位置校正方法。该位置校正方法包括通过晶体阵列接收光子并产生光信号。所述晶体阵列包括具有不同的晶体衰减时间的至少两种晶体,所述至少两种晶体在接收光子的接收面上间隔排列。该位置校正方法还包括将所述光信号转换为电信号;根据所述电信号确定所述光子入射至所述晶体阵列的位置信息和所述电信号的信号衰减时间;及比对所述信号衰减时间和所述晶体衰减时间,确定所述信号衰减时间所符合的所述晶体衰减时间对应的晶体,来校正所述位置信息。本申请还提供一种位置校正系统。 | ||
搜索关键词: | 位置 校正 方法 系统 | ||
【主权项】:
一种位置校正方法,其特征在于:其包括:通过晶体阵列接收光子并产生光信号,所述晶体阵列包括具有不同的晶体衰减时间的至少两种晶体,所述至少两种晶体在接收光子的接收面上间隔排列;将所述光信号转换为电信号;根据所述电信号确定所述光子入射至所述晶体阵列的位置信息和所述电信号的信号衰减时间;及比对所述信号衰减时间和所述晶体衰减时间,确定所述信号衰减时间所符合的所述晶体衰减时间对应的晶体,来校正所述位置信息。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于东软医疗系统股份有限公司,未经东软医疗系统股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201710546054.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种智能外科护理监视系统
- 下一篇:一种数据处理方法及医疗扫描系统