[发明专利]位置校正方法和系统

说明书

本申请提供一种位置校正方法。该位置校正方法包括通过晶体阵列接收光子并产生光信号。所述晶体阵列包括具有不同的晶体衰减时间的至少两种晶体，所述至少两种晶体在接收光子的接收面上间隔排列。该位置校正方法还包括将所述光信号转换为电信号；根据所述电信号确定所述光子入射至所述晶体阵列的位置信息和所述电信号的信号衰减时间；及比对所述信号衰减时间和所述晶体衰减时间，确定所述信号衰减时间所符合的所述晶体衰减时间对应的晶体，来校正所述位置信息。本申请还提供一种位置校正系统。

技术领域

本申请涉及医疗成像领域，尤其涉及一种对光子的位置信息校正的方法和系统。

背景技术

正电子发射断层成像(Positron Emission Tomography，PET)技术是通过向受检体注入放射性核素标记的示踪剂，示踪剂通过循环系统在受检体代谢旺盛的一些组织聚集。同时示踪剂中的核素发生衰变释放出正电子，正电子与其周围的负电子碰撞湮灭，释放出相反方向飞行的光子对。光子对被一对探测器单元接收时便记做一个符合事件。当足够多的光子对被PET探测器接收到，就可以利用重建算法计算出示踪剂在受检体内的分布情况，从而获得受检体代谢分布信息。

发明内容

本申请的一个方面提供一种位置校正方法。该位置校正方法包括通过晶体阵列接收光子并产生光信号。所述晶体阵列包括具有不同的晶体衰减时间的至少两种晶体，所述至少两种晶体在接收光子的接收面上间隔排列。该位置校正方法还包括将所述光信号转换为电信号；根据所述电信号确定所述光子入射至所述晶体阵列的位置信息和所述电信号的信号衰减时间；及比对所述信号衰减时间和所述晶体衰减时间，确定所述信号衰减时间所符合的所述晶体衰减时间对应的晶体，来校正所述位置信息。

本申请的另一个方面提供一种位置校正系统。该位置校正系统包括：晶体阵列，包括具有不同的晶体衰减时间的至少两种晶体，所述至少两种晶体在接收光子的接收面上间隔排列，用来接收光子并产生光信号；光电转换器件，与所述晶体阵列连接，用来将所述光信号转换为电信号；电信号处理单元，用来根据所述电信号确定所述光子入射至所述晶体阵列的位置信息和所述电信号的信号衰减时间；及校正单元，比对所述信号衰减时间和所述晶体衰减时间，确定所述信号衰减时间所符合的所述晶体衰减时间对应的晶体，来校正所述位置信息。

本申请位置校正方法和系统利用不同晶体的晶体衰减时间不同，通过比对信号衰减时间和晶体衰减时间，校正光子入射至晶体阵列的位置信息，降低误码率。

附图说明

图1所示为本申请PET探测器的一个实施例的示意图；

图2所示为图1所示的PET探测器的晶体阵列从接收面所示的正视图；

图3所示为本申请位置校正方法的一个实施例的流程图；

图4所示为本申请一个实施例的二维位置散点图；

图5所示为分割图4所示的二维位置散点图获得的编码分割表的示意图；

图6所示为一个实施例的电信号的幅度随着时间变化的波形图；

图7所示为本申请位置校正表和图5所示的编码分割表结合在一起的一个实施例的示意图；

图8所示为本申请位置校正表和图5所示的编码分割表结合在一起的另一个实施例的示意图；

图9所示为本申请位置校正系统的一个实施例的示意框图。

具体实施方式

这里将详细地对示例性实施例进行说明，其示例表示在附图中。下面的描述涉及附图时，除非另有表示，不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性实施例中所描述的实施方式并不代表与本申请相一致的所有实施方式。相反，它们仅是与如所附权利要求书中所详述的、本申请的一些方面相一致的装置和方法的例子。