[发明专利]亚像素级角点的检测方法及系统有效
申请号: | 201710534647.6 | 申请日: | 2017-07-03 |
公开(公告)号: | CN109211102B | 公开(公告)日: | 2020-10-27 |
发明(设计)人: | 孔全存;骆荣坤;刘桂礼;樊夏辉;李东 | 申请(专利权)人: | 北京信息科技大学 |
主分类号: | G01B11/00 | 分类号: | G01B11/00 |
代理公司: | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人: | 张润 |
地址: | 100192 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: |
本发明公开了一种亚像素级角点的检测方法及系统。该方法包括:提供标定板,采集标定板的图像;对图像进行预处理以得到第一图像;在第一图像的任一四邻域D |
||
搜索关键词: | 像素 级角点 检测 方法 系统 | ||
【主权项】:
1.一种亚像素级角点的检测方法,其特征在于,包括以下步骤:提供标定板,采集所述标定板的图像;对所述图像进行预处理以得到第一图像;在所述第一图像的任一四邻域Dij内,进行边缘提取,并拟合所述四邻域Dij内的四邻域边,得到四邻域边的直线方程;根据所述四邻域边的直线方程得到所述四邻域Dij内的等距点Oij的坐标
在所述四邻域Dij内,根据所述四邻域边的直线方程得到四邻域对角线的方向,其中,所述对角线为四邻域Dij的两条对角线中平均灰度值较低的一条;在四邻域Dij内,对所述过等距点Oij的沿四邻域对角线方向上的域段内,采用SINC函数灰度分布进行角点位置的约束,以得到亚像素级角点。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京信息科技大学,未经北京信息科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201710534647.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种电子束对中检测管以及电子束对中检测装置
- 下一篇:推定系统