[发明专利]一种电离层探测方法及系统

摘要

本发明公开了一种电离层探测方法及系统，其中，方法包括使用USRP发射设定频率的电磁波和接收电离层反射的电磁波，并记录发射和接收的电磁波信息；USRP通过千兆网口与计算机通信，计算机根据发射和接收的电磁波信息计算设定电磁波发射频率下的电离层高度、电离层电子密度、电离层电子径向速度；改变USRP发射的电磁波频率，获取不同电磁波发射频率下的电离层高度、电离层电子密度及电离层电子径向速度并绘制电离层分布图。有益效果USRP通过千兆网口与计算机通信，USRP实现电磁波的收发及初步的信号处理，计算机进行较为复杂的信号处理和相关探测目标的计算，利用USRP和已编程的计算机即可实现电离层探测，成本低廉，灵活、便利、开放程度高，易于维护。

主权项

一种电离层探测方法，其特征在于，包括步骤：S1、使用USRP发射设定频率的电磁波，并记录发射的电磁波的信息为第一电磁波信息；S2、使用所述USRP接收经电离层反射的电磁波，获取接收的电磁波的信息为第二电磁波信息；S3、所述USRP通过千兆网口与计算机通信，所述计算机根据所述第一电磁波信息、所述第二电磁波信息计算设定电磁波发射频率下的电离层高度、电离层电子密度、电离层电子径向速度；S4、通过所述计算机向所述USRP发送指令，改变所述USRP发射的电磁波频率，再次执行步骤S1‑S3，获取不同电磁波发射频率下的所述电离层高度、所述电离层电子密度及所述电离层电子径向速度并绘制电离层分布图。