[发明专利]基于奇异谱分析的电离层异常探测方法及系统在审

专利信息
申请号: 201710358603.2 申请日: 2017-05-19
公开(公告)号: CN107024694A 公开(公告)日: 2017-08-08
发明(设计)人: 姚宜斌;翟长治;孔健;刘磊 申请(专利权)人: 武汉大学
主分类号: G01S13/95 分类号: G01S13/95
代理公司: 湖北武汉永嘉专利代理有限公司42102 代理人: 王丹
地址: 430072 湖*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明提供一种基于奇异谱分析的电离层异常探测方法,获取历史电离层观测数据ION;利用奇异谱分析法得到电离层正常变化成分IONmain;基于电离层平静时期计算正常背景噪声ε;根据IONmain和ε,得到电离层观测数据ION的正常变化范围;当实际电离层观测数据超出电离层观测数据ION的正常变化范围时,视为电离层异常。本发明通过奇异谱分析,能够识别和强化周期信号,其提取的正常变化成分中包含了电离层随着地球公转的季节变化、太阳27天自转周期引起的电离层9天、13.5天、27天周期变化等的影响,因此异常探测结果中排除了背景场时间段与异常探测时间段地球外界环境不同造成的干扰,能够有效探测电离层异常信息。
搜索关键词: 基于 奇异 谱分析 电离层 异常 探测 方法 系统
【主权项】:
一种基于奇异谱分析的电离层异常探测方法,其特征在于:它包括以下步骤:S1、获取历史电离层观测数据ION;S2、利用奇异谱分析法得到电离层正常变化成分IONmain;S3、基于电离层平静时期计算正常背景噪声ε;S4、根据IONmain和ε,得到电离层观测数据ION的正常变化范围;S5、当实际电离层观测数据超出电离层观测数据ION的正常变化范围时,视为电离层异常。
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