[发明专利]一种电子耳蜗刺激器芯片防静电测试方法在审
| 申请号： | 201710267793.7 | 申请日： | 2017-04-21 |
| 公开（公告）号： | CN107121605A | 公开（公告）日： | 2017-09-01 |
| 发明（设计）人： | 陈灿锋;孙晓安;黄穗 | 申请（专利权）人： | 浙江诺尔康神经电子科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R31/28 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 311100 浙江省杭州*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种电子耳蜗刺激器芯片防静电测试方法，包括了以下步骤将芯片各输入输出管脚与电容相连，电容与芯片输入输出管脚相连一端称引脚，电容的另一端称电极口，芯片的电源脚和地脚通过一个电容相连；对芯片的单输入输出管脚进行静电放电测试；对芯片的双输入输出管脚进行静电放电测试；对芯片的电源脚和地脚进行静电放电测试。本发明可以更准确的锁定生产步骤中哪个环节更容易导致芯片管脚被打坏，哪种放电通路容易被打坏，查找到正确的原因，进行该放电通路的改进与强化，同时指导生产加强相应步骤的静电防护工作。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 电子 耳蜗 刺激 芯片 静电 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种电子耳蜗刺激器芯片防静电测试方法，其特征在于，包括以下步骤：将芯片各输入输出管脚与电容相连，电容与芯片输入输出管脚相连一端称引脚，电容的另一端称电极口，芯片的电源脚和地脚通过一个电容相连；对芯片的单输入输出管脚进行静电放电测试；对芯片的双输入输出管脚进行静电放电测试；对芯片的电源脚和地脚进行静电放电测试，其中，对单输入输出管脚静电放电测试包括以下步骤：地脚接地，对一个引脚施加正的静电放电电压对地放电，电源脚与其余电极口皆悬空；地脚接地，对一个引脚施加负的静电放电电压对地放电，电源脚与其余电极口皆悬空；地脚接地，对一个电极口施加正的静电放电电压对地放电，电源脚与其余电极口皆悬空；地脚接地，对一个电极口施加负的静电放电电压对地放电，电源脚与其余电极口皆悬空；电源脚接地，对一个引脚施加正的静电放电电压对电源放电，地脚与其余电极口皆悬空；电源脚接地，对一个引脚施加负的静电放电电压对电源放电，地脚与其余电极口皆悬空；电源脚接地，对一个电极口施加正的静电放电电压对电源放电，地脚与其余电极口皆悬空；电源脚接地，对一个电极口施加负的静电放电电压对电源放电，地脚与其余电极口皆悬空，其中，在每一步对被测引脚或被测电极口对应的引脚进行电流电压扫描，直到记录到导致IV曲线偏离时的静电放电电压。
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