[发明专利]双垂直窗三埋层SOI高压器件结构在审
申请号: | 201710185314.7 | 申请日: | 2017-03-26 |
公开(公告)号: | CN108630709A | 公开(公告)日: | 2018-10-09 |
发明(设计)人: | 沈立 | 申请(专利权)人: | 上海卓弘微系统科技有限公司 |
主分类号: | H01L27/12 | 分类号: | H01L27/12 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 201399 上海市浦东新区*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开了一种多埋层大功率高压器件结构,器件结构如图1所示,该结构的埋层包含三层氧化层,两个窗不与埋层平行或者第一埋层与第二埋层不在同一平面上,第一层与第三层通过二氧化硅相连。第一层第二层埋氧层与第三层埋氧层之间填充多晶硅。该方法通过增强第三层埋氧层的电场,同时第一第二埋氧层的硅窗口可以调制漂移区电场来提高纵向击穿电压。 | ||
搜索关键词: | 埋层 埋氧层 第三层 电场 器件结构 第一层 高压器件结构 纵向击穿电压 大功率高压 二氧化硅 垂直窗 多晶硅 漂移区 氧化层 三层 调制 填充 平行 | ||
【主权项】:
1.一种双窗双埋层SOI高压器件结构,包括三层埋氧层以及埋氧层之间的多晶硅层,其特征在于所开的两个窗(第一埋层两端分别与第二埋层两端的连线)不与埋层平行或者第一埋层与第二埋层不在同一平面上,一二层与第三层埋层之间的填充多晶硅。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
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