[发明专利]一种在原子力显微镜探针表面可控区域生成金属镀层的方法有效

专利信息
申请号: 201710179793.1 申请日: 2017-03-23
公开(公告)号: CN107043929B 公开(公告)日: 2019-08-16
发明(设计)人: 王栋;赵智豪;万立骏 申请(专利权)人: 中国科学院化学研究所
主分类号: C23C18/31 分类号: C23C18/31;C23C18/18
代理公司: 北京知元同创知识产权代理事务所(普通合伙) 11535 代理人: 刘元霞;牛艳玲
地址: 100190 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种在原子力显微镜(AFM)探针表面可控区域生成金属镀层的方法,所述方法是利用化学还原处理的方法在AFM探针针尖表面上进行金属沉积,所述方法制备得到的金属膜层,具有成本低,膜层致密,重现性高和对环境友好等特点。所述方法是通过准确控制AFM针尖扎入含氟化氢的薄膜的深度,在探针针尖表面得到不同大小的活化区域;再将其浸入含有金属离子的盐溶液内进行化学还原反应,通过准确控制沉积时间以及改变金属离子浓度,可以获得不同金属和不同厚度的镀层。因此,通过控制实验中的不同条件,采用化学镀的方法对商品化的AFM针尖进行金属的沉积,可以获得不同性质的光滑TERS针尖。
搜索关键词: 一种 原子 显微镜 探针 表面 可控 区域 生成 金属 镀层 方法
【主权项】:
1.一种在原子力显微镜(AFM)探针表面可控区域还原生成金属镀层的方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:1)含氟化氢的高分子聚合物薄膜的制备,其中,所述含氟化氢的高分子聚合物薄膜是以高分子聚合物为主体基底,并将氟化氢以离子形式分散其中;2)采用步骤1)制备的含氟化氢的高分子聚合物薄膜对AFM探针针尖表面可控区域进行活化处理,去除其表面氧化层,同时使其表面活化生成Si‑H键;3)对步骤2)制备得到的去除表面氧化层并经表面活化后的AFM探针针尖表面可控区域进行化学还原处理,即制备得到金属镀层;其中,在步骤1)中,所述含氟化氢的高分子聚合物薄膜的制备包括如下步骤:(1a)基片表面处理:取基片,分别用丙酮、乙醇、超纯水超声洗涤数次,每次洗涤至少5分钟;随后将基片置于浓硫酸与30%过氧化氢混合溶液中,于80~100℃温度下浸泡20~40分钟;最后用超纯水洗涤干净后,N2吹干即可;(1b)含氟化氢的高分子聚合物薄膜的制备:将5~20mg/mL的高分子聚合物的溶液滴加在步骤(1a)获得的经表面处理后的基片上,经过50~70℃热处理,得到高分子聚合物薄膜;随后在其表面上逐滴滴加HF溶液,并在空气中静置,待其晾干后,得到覆盖在基片表面的含氟化氢的高分子聚合物薄膜。
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