[发明专利]一种显示单元制程控制方法及系统有效
申请号: | 201710149493.9 | 申请日: | 2017-03-14 |
公开(公告)号: | CN106646957B | 公开(公告)日: | 2018-07-20 |
发明(设计)人: | 简重光 | 申请(专利权)人: | 惠科股份有限公司;重庆惠科金渝光电科技有限公司 |
主分类号: | G02F1/13 | 分类号: | G02F1/13;G02F1/1333 |
代理公司: | 深圳中一专利商标事务所 44237 | 代理人: | 阳开亮 |
地址: | 518000 广东省深圳市宝安区石岩街道水田村民*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本申请提供一种显示单元制程控制方法及系统,通过在第一基板和第二基板进入显示单元制程之前,根据第一基板和第二基板上不良基片数量,选择不良基片数量小于预设个数的第一基板和第二基板作为达标第一基板和达标第二基板,并根据第一基板和第二基板上不良基片的位置,将达标第一基板和达标第二基板划分为多个分选等级,并在显示单元制程中,按照分选等级对第一基板和第二基板进行配对组合,并选取匹配度高的配对组合进入组立制程,能够大大提高显示单元制程达标率,从而有效提高生产效率并节约制造成本。 | ||
搜索关键词: | 一种 显示 单元 程控 方法 系统 | ||
【主权项】:
1.一种显示单元制程控制方法,其特征在于,所述方法包括:检测第一基板上的不良基片的数量,选取不良基片的数量小于或等于第一预设个数的第一基板作为达标第一基板;按照所述达标第一基板上不良基片的位置,将所述达标第一基板划分为第二预设个数的分选等级,并将所述达标第一基板输送至显示单元制程;检测第二基板的不良基片的数量,选取不良基片的数量小于或等于第三预设个数的第二基板作为达标第二基板;按照所述达标第二基板上不良基片的位置,将所述达标第二基板划分为第四预设个数的分选等级,并将所述达标第二基板输送至显示单元制程;按照分选等级对所述达标第一基板和所述达标第二基板进行配对组合;计算每个配对组合的达标匹配度,选取所述达标匹配度大于预设比例的配对组合输送至组立制程。
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