[发明专利]一种PIN结构紫外光电探测器及其制备方法在审
申请号: | 201710148803.5 | 申请日: | 2017-03-14 |
公开(公告)号: | CN108574020A | 公开(公告)日: | 2018-09-25 |
发明(设计)人: | 孙月静 | 申请(专利权)人: | 孙月静 |
主分类号: | H01L31/0304 | 分类号: | H01L31/0304;H01L31/105;H01L31/18 |
代理公司: | 常州佰业腾飞专利代理事务所(普通合伙) 32231 | 代理人: | 康潇 |
地址: | 214000 江苏省无锡市*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了半导体光电探测技术领域的一种PIN结构紫外光电探测器及其制备方法,包括基底,所述基底顶部设有光吸收层所述接触层的顶部左右两端分别设有N电极和P电极,一种PIN结构紫外光电探测器制备方法,该PIN结构紫外光电探测器制备方法具体包括以下步骤:S1:以Al2O3作为衬底;S2:形成n‑GaN基底;S4:在i‑AlInGaN光吸收层上再生长0.1‑0.3μm的掺杂Mg的p‑AlInGaN过渡层;S5:以p‑GaN作为欧姆接触层,本发明对结构进行优化设计,减少表面光反射率,优化有源层厚度,提高器件的量子效率,从而提高光响应度,其中晶格常数和禁带宽度可独立变化,能够提高与金属接触层的半导体浓度,有利于形成良好的欧姆接触。 | ||
搜索关键词: | 紫外光电探测器 制备 光吸收层 基底 半导体 金属接触层 欧姆接触层 独立变化 光电探测 光响应度 晶格常数 量子效率 欧姆接触 优化设计 反射率 过渡层 接触层 再生长 衬底 禁带 源层 掺杂 优化 | ||
【主权项】:
1.一种PIN结构紫外光电探测器,包括基底(1),其特征在于:所述基底(1)顶部设有光吸收层(2),所述光吸收层(2)的顶部设有过渡层(3),所述过渡层(3)的顶部设有接触层(4),所述接触层(4)的顶部左右两端分别设有N电极(5)和P电极(6),所述基底(1)、光吸收层(2)、过渡层(3)和接触层(4)的外壁均涂覆有SiO2保护膜层(7)。
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