[发明专利]一种致热缺陷检测方法及系统有效
申请号: | 201710136708.3 | 申请日: | 2017-03-09 |
公开(公告)号: | CN107024506B | 公开(公告)日: | 2020-06-26 |
发明(设计)人: | 张仕民;张垚;牟加清;汪锦;冷代军;余昆;鲜开义;杨莉君;段晶晶 | 申请(专利权)人: | 深圳市朗驰欣创科技股份有限公司;国网四川省电力公司检修公司 |
主分类号: | G01N25/72 | 分类号: | G01N25/72;G06T7/00 |
代理公司: | 深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414 | 代理人: | 张全文 |
地址: | 518000 广东省深圳市南山*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明适用于数据处理领域,提供了一种致热缺陷检测方法及系统,所述方法包括:提取红外图像中待检测设备的图像,并识别待检测设备的设备类型及致热缺陷类型;根据设备类型及致热缺陷类型,选择待检测设备相应的致热缺陷分析方法,并选取待检测设备中发热部位的发热分析区域,发热分析区域包括框选区域及线段区域;根据发热分析区域及致热缺陷分析方法,分析待检测设备是否出现致热缺陷。根据待检测设备的具体设备类型和所属相应的致热缺陷类型,来确定具体的发热分析区域及致热缺陷分析方法,充分做到不同设备不同分析,从而使得对设备是否存在致热缺陷的判断更加准确可靠,使得设备的致热缺陷检测结果更加准确。 | ||
搜索关键词: | 一种 缺陷 检测 方法 系统 | ||
【主权项】:
一种致热缺陷检测方法,其特征在于,包括:提取红外图像中待检测设备的图像,并识别所述待检测设备的设备类型及致热缺陷类型;根据所述设备类型及所述致热缺陷类型,选择所述待检测设备相应的致热缺陷分析方法,并选取所述待检测设备中发热部位的发热分析区域,所述发热分析区域包括框选区域及线段区域;根据所述发热分析区域及所述致热缺陷分析方法,分析所述待检测设备是否出现致热缺陷。
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