[发明专利]一种致热缺陷检测方法及系统有效

专利信息
申请号: 201710136708.3 申请日: 2017-03-09
公开(公告)号: CN107024506B 公开(公告)日: 2020-06-26
发明(设计)人: 张仕民;张垚;牟加清;汪锦;冷代军;余昆;鲜开义;杨莉君;段晶晶 申请(专利权)人: 深圳市朗驰欣创科技股份有限公司;国网四川省电力公司检修公司
主分类号: G01N25/72 分类号: G01N25/72;G06T7/00
代理公司: 深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414 代理人: 张全文
地址: 518000 广东省深圳市南山*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 缺陷 检测 方法 系统
【权利要求书】:

1.一种致热缺陷检测方法,其特征在于,包括:

提取红外图像中待检测设备的图像,并识别所述待检测设备的设备类型及致热缺陷类型;

根据所述设备类型及所述致热缺陷类型,选择所述待检测设备相应的致热缺陷分析方法,并选取所述待检测设备中发热部位的发热分析区域,所述发热分析区域包括框选区域及线段区域;

根据所述发热分析区域及所述致热缺陷分析方法,分析所述待检测设备是否出现致热缺陷;

所述根据所述设备类型及所述致热缺陷类型,选择所述待检测设备相应的致热缺陷分析方法,并选取所述待检测设备中发热部位的发热分析区域,还包括:

若所述设备类型为非多相运行设备,且所述致热缺陷类型为电压致热型,对所述待检测设备中发热部位进行所述线段区域选取,并综合曲线离散度缺陷判断法及同类温升对比判断法进行分析,来作为所述致热缺陷分析方法;

在使用曲线离散度缺陷判断法温度曲线进行计算时,利用均方差值和最大温差值均可表示曲线的离散程度的特性,来进行待检测设备致热缺陷的分析,具体包括计算温度曲线中温度数据的均方差值和最大温差值,并计算均方差值和最大温差值的比值,若比值小于预设平稳阈值,则认为待检测设备存在致热缺陷,若比值不小于预设平稳阈值则认为待检测设备不存在致热缺陷;

利用同类温升对比判断法,对待检测设备和查找到的同类设备进行对比,并判断待检测设备是否存在致热缺陷时,在查找到待检测设备的同类设备后,将待检测设备及同类设备的温度曲线进行对比,若待检测设备温度曲线中有明显高于同类设备温度曲线的部分,则判定待检测设备存在致热缺陷,若待检测设备及同类设备的温度曲线整体发热情况相近,则判定不存在致热缺陷。

2.如权利要求1所述方法,其特征在于,所述提取红外图像中待检测设备的图像,包括:

采用基于特征匹配的红外图像定位算法对所述红外图像进行特征点提取,并判断所述特征点数量是否满足所述基于特征匹配的红外图像定位算法的计算需求;

若所述特征点数量满足计算需求,则采用基于特征匹配的红外图像定位算法,对所述红外图像中的所述待检测设备进行提取;

若所述特征点数量不满足计算需求,则采用基于组件的模板匹配定位算法,对所述红外图像中的所述待检测设备进行提取。

3.如权利要求1所述方法,其特征在于,所述根据所述设备类型及所述致热缺陷类型,选择所述待检测设备相应的致热缺陷分析方法,并选取所述待检测设备中发热部位的发热分析区域,包括:

若所述致热缺陷类型为电流致热型,对所述待检测设备中发热部位进行所述框选区域选取,并综合表面温度判断法、相对温差判断法及同类比较判断法进行分析,来作为所述致热缺陷分析方法。

4.如权利要求1所述方法,其特征在于,所述根据所述设备类型及所述致热缺陷类型,选择所述待检测设备相应的致热缺陷分析方法,并选取所述待检测设备中发热部位的发热分析区域,还包括:

若所述设备类型为多相运行设备,且所述致热缺陷类型为所述电压致热型,对所述待检测设备中发热部位进行所述线段区域选取,并综合所述曲线离散度缺陷判定法、曲线相似性判断法及所述同类温升对比判断法进行分析,来作为所述致热缺陷分析方法,其中,曲线相似性判断法是指将两条温度曲线进行相似性计算,并判断两条温度曲线的相似度。

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