[发明专利]基于Laplace算子和反卷积的图像非均匀性校正方法有效

专利信息
申请号: 201710116968.4 申请日: 2017-03-01
公开(公告)号: CN106886983B 公开(公告)日: 2019-08-23
发明(设计)人: 王德江;周达标;霍丽君;刘让;贾平 申请(专利权)人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
主分类号: G06T5/00 分类号: G06T5/00;G06T5/20
代理公司: 北京理工大学专利中心 11120 代理人: 刘芳;仇蕾安
地址: 130033 吉*** 国省代码: 吉林;22
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摘要: 发明提供一种基于Laplace算子和反卷积的图像非均匀性校正方法,具体过程为:步骤一、针对待校正的F帧图像,利用Laplace算子对其进行卷积处理;步骤二、对卷积后F帧图像的同一像素点取中值,逐像素计算后得到中值矩阵;步骤三、基于所述中值矩阵,利用反卷积算法计算校正系数矩阵b;利用所述校正系数矩阵b对待校正图像进行校正。本发明基于相邻四个像素具有统计一致性的假设,对图像进行卷积、取中值最终计算出校正系数矩阵进行校正,该方法能够校正非均匀性噪声中的高频分量和低频分量,不需要预存基于定标法的校正系数,从而彻底解决探测器辐射响应随时间漂移的问题。
搜索关键词: 基于 laplace 算子 卷积 图像 均匀 校正 方法
【主权项】:
1.一种基于Laplace算子和反卷积的图像非均匀性校正方法,其特征在于,具体过程为:步骤一、针对待校正的F帧图像,利用Laplace算子对其进行卷积处理;其中,Laplace算子进行卷积的卷积核H为:步骤二、对卷积后F帧图像的同一像素点取中值,逐像素计算后得到中值矩阵;步骤三、基于所述中值矩阵,利用反卷积算法计算校正系数矩阵b;利用所述校正系数矩阵b对待校正图像进行校正;校正模型为Jf(i,j)=If(i,j)+b(i,j)其中,Jf为校正后图像,If为待校正图像。
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