[发明专利]基于Laplace算子和反卷积的图像非均匀性校正方法有效
申请号: | 201710116968.4 | 申请日: | 2017-03-01 |
公开(公告)号: | CN106886983B | 公开(公告)日: | 2019-08-23 |
发明(设计)人: | 王德江;周达标;霍丽君;刘让;贾平 | 申请(专利权)人: | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
主分类号: | G06T5/00 | 分类号: | G06T5/00;G06T5/20 |
代理公司: | 北京理工大学专利中心 11120 | 代理人: | 刘芳;仇蕾安 |
地址: | 130033 吉*** | 国省代码: | 吉林;22 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供一种基于Laplace算子和反卷积的图像非均匀性校正方法,具体过程为:步骤一、针对待校正的F帧图像,利用Laplace算子对其进行卷积处理;步骤二、对卷积后F帧图像的同一像素点取中值,逐像素计算后得到中值矩阵;步骤三、基于所述中值矩阵,利用反卷积算法计算校正系数矩阵b;利用所述校正系数矩阵b对待校正图像进行校正。本发明基于相邻四个像素具有统计一致性的假设,对图像进行卷积、取中值最终计算出校正系数矩阵进行校正,该方法能够校正非均匀性噪声中的高频分量和低频分量,不需要预存基于定标法的校正系数,从而彻底解决探测器辐射响应随时间漂移的问题。 | ||
搜索关键词: | 基于 laplace 算子 卷积 图像 均匀 校正 方法 | ||
【主权项】:
1.一种基于Laplace算子和反卷积的图像非均匀性校正方法,其特征在于,具体过程为:步骤一、针对待校正的F帧图像,利用Laplace算子对其进行卷积处理;其中,Laplace算子进行卷积的卷积核H为:
步骤二、对卷积后F帧图像的同一像素点取中值,逐像素计算后得到中值矩阵;步骤三、基于所述中值矩阵,利用反卷积算法计算校正系数矩阵b;利用所述校正系数矩阵b对待校正图像进行校正;校正模型为Jf(i,j)=If(i,j)+b(i,j)其中,Jf为校正后图像,If为待校正图像。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,未经中国科学院长春光学精密机械与物理研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201710116968.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:CBCT图像环形伪影去除方法
- 下一篇:一种矢量要素校正方法及装置