[发明专利]一种玉米籽粒的表型测量方法及系统有效
| 申请号： | 201710099982.8 | 申请日： | 2017-02-23 |
| 公开（公告）号： | CN106971393B | 公开（公告）日： | 2019-09-10 |
| 发明（设计）人： | 杜建军;王传宇;郭新宇 | 申请（专利权）人： | 北京农业信息技术研究中心 |
| 主分类号： | G06T7/10 | 分类号： | G06T7/10;G06T7/564;G06T7/60;G06T7/40;G06K9/62 |
| 代理公司： | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人： | 王庆龙 |
| 地址： | 100097 北京市海淀区*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明实施例公开一种玉米籽粒的表型测量方法及系统，所述方法包括：获取玉米籽粒的图像信息，将所述图像信息进行图像处理，进行所述玉米籽粒的预分割处理，获取所述玉米籽粒的色度二值图；根据所述色度二值图，获取所述玉米籽粒的分裂轮廓图像信息和内切圆图像信息；将所述分裂轮廓图像信息和所述内切圆图像信息进行融合分析，获得所述玉米籽粒的表型信息，其中所述表型信息包括所述玉米籽粒的百粒重信息、粒长信息和粒宽信息。所述系统用于执行上述方法。本发明实施例实现了玉米籽粒的表型测量的自动化，提高了玉米籽粒的表型测量的效率和准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 玉米 籽粒 表型 测量方法 系统 | ||
【主权项】：
1.一种玉米籽粒的表型测量方法，其特征在于，所述方法包括：获取玉米籽粒的图像信息，将所述图像信息进行图像处理，进行所述玉米籽粒的预分割处理，获取所述玉米籽粒的色度二值图；根据所述色度二值图，获取所述玉米籽粒的分裂轮廓图像信息和内切圆图像信息；将所述分裂轮廓图像信息和所述内切圆图像信息进行融合分析，获得所述玉米籽粒的表型信息，其中所述表型信息包括所述玉米籽粒的百粒重信息、粒长信息和粒宽信息；其中，所述将所述分裂轮廓图像信息和所述内切圆图像信息进行融合分析，包括：根据所述分裂轮廓图像信息和所述内切圆图像信息，获取所述分裂轮廓图像信息中的分裂轮廓和所述内切圆图像信息中的内切圆的位置形状对应关系，所述位置形状对应关系包括相交和包含；根据所述位置形状对应关系将所述分裂轮廓和所述内切圆进行分类，将所述分裂轮廓和其对应的类型、所述内切圆和其对应的类型存储在分裂轮廓‑内切圆查找表中。
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