[发明专利]影响波及分析方法及其装置有效

专利信息
申请号: 201710010440.9 申请日: 2017-01-06
公开(公告)号: CN107844510B 公开(公告)日: 2021-04-30
发明(设计)人: 高井康势;河合克己;神佑介;土屋良介;三部良太;向坂太郎 申请(专利权)人: 株式会社日立制作所
主分类号: G06F16/33 分类号: G06F16/33;G06F11/36;G06F30/00
代理公司: 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 代理人: 范胜杰;文志
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明提供一种影响波及分析方法及其装置。为了实现误确定、疏漏少的影响波及分析方法,调查与必要条件、规格的变更相伴的影响波及范围的影响波及分析装置构成为具备:存储部,其存储设计信息和关键字;输入部,其输入在存储部中存储的设计条件中的成为影响波及分析的起点的设计信息所构成的追踪条件和在存储部中存储的关键字;CPU,其从输入部输入包含成为影响波及分析的起点的设计信息的追踪条件和关键字,针对每个所述设计信息计算影响得分,该影响得分表示与必要条件、规格的变更相伴的影响的概率;以及显示部,其输出通过CPU计算出的结果。
搜索关键词: 影响 波及 分析 方法 及其 装置
【主权项】:
一种影响波及分析装置,其调查与必要条件、规格的变更相伴的影响波及范围,其特征在于,具备:存储部,其存储设计信息和关键字;输入部,其输入在所述存储部中存储的设计条件中的成为影响波及分析的起点的设计信息所构成的追踪条件和在所述存储部中存储的关键字;CPU,其从所述输入部输入包含成为影响波及分析的起点的设计信息的追踪条件和关键字,针对每个所述设计信息计算影响得分,该影响得分表示与必要条件、规格的变更相伴的影响的概率;以及显示部,其输出通过所述CPU计算出的结果。
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