[发明专利]光电二极管集成器件及其制备方法在审
申请号: | 201710005291.7 | 申请日: | 2017-01-04 |
公开(公告)号: | CN106847815A | 公开(公告)日: | 2017-06-13 |
发明(设计)人: | 曹进伟;陈孟邦;乔世成;蔡荣怀;黄国华 | 申请(专利权)人: | 宗仁科技(平潭)有限公司 |
主分类号: | H01L27/102 | 分类号: | H01L27/102;H01L27/105;H01L21/8238 |
代理公司: | 深圳中一专利商标事务所44237 | 代理人: | 阳开亮 |
地址: | 350400 福建省福州市*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | 本发明属于半导体集成电路技术领域,具体涉及一种光电二极管集成器件及其制备方法。该光电二极管集成器件包括P型单晶硅衬底,该衬底上设置有若干光电二极管集成器件单元,包括Photo Diode单元、NMOS单元和PMOS单元;还包括依次层叠设置的第一介电层、第一金属层、透光层、第二介电层和第二金属层。本发明光电二极管集成器件在CMOS工艺中集成,直接将光电二极管做在CMOS的普通P型单晶硅衬底上,不需要高成本的外延层,大大降低了成本,扩展其应用范围。 | ||
搜索关键词: | 光电二极管 集成 器件 及其 制备 方法 | ||
【主权项】:
一种光电二极管集成器件,其特征在于,所述光电二极管集成器件基于CMOS工艺形成,包括:P型单晶硅衬底,所述P型单晶硅衬底内部形成有N阱区和P阱区,所述P阱区内部形成有P+扩散区;所述P型单晶硅衬底上设置有若干光电二极管集成器件单元,所述光电二极管集成器件单元包括Photo Diode单元、NMOS单元和PMOS单元;所述Photo Diode单元设置在所述N阱区,包括在所述N阱区内设置的N+扩散区;所述NMOS单元设置在所述P阱区,所述PMOS单元设置在所述N阱区;所述NMOS单元和PMOS单元均包括源极、漏极和栅极;且所述Photo Diode单元、NMOS单元和PMOS单元均包括设置在所述P型单晶硅衬底上的栅氧化层和场氧化层;在所述N+扩散区和场氧化层表面依次层叠设置有第一介电层、第一金属层、透光层、第二介电层和第二金属层,其中,所述N+扩散区表面的第一介电层厚度小于所述NMOS单元和PMOS单元的第一介电层厚度。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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