[发明专利]光电二极管集成器件及其制备方法在审

专利信息
申请号: 201710005291.7 申请日: 2017-01-04
公开(公告)号: CN106847815A 公开(公告)日: 2017-06-13
发明(设计)人: 曹进伟;陈孟邦;乔世成;蔡荣怀;黄国华 申请(专利权)人: 宗仁科技(平潭)有限公司
主分类号: H01L27/102 分类号: H01L27/102;H01L27/105;H01L21/8238
代理公司: 深圳中一专利商标事务所44237 代理人: 阳开亮
地址: 350400 福建省福州市*** 国省代码: 福建;35
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摘要: 发明属于半导体集成电路技术领域,具体涉及一种光电二极管集成器件及其制备方法。该光电二极管集成器件包括P型单晶硅衬底,该衬底上设置有若干光电二极管集成器件单元,包括Photo Diode单元、NMOS单元和PMOS单元;还包括依次层叠设置的第一介电层、第一金属层、透光层、第二介电层和第二金属层。本发明光电二极管集成器件在CMOS工艺中集成,直接将光电二极管做在CMOS的普通P型单晶硅衬底上,不需要高成本的外延层,大大降低了成本,扩展其应用范围。
搜索关键词: 光电二极管 集成 器件 及其 制备 方法
【主权项】:
一种光电二极管集成器件,其特征在于,所述光电二极管集成器件基于CMOS工艺形成,包括:P型单晶硅衬底,所述P型单晶硅衬底内部形成有N阱区和P阱区,所述P阱区内部形成有P+扩散区;所述P型单晶硅衬底上设置有若干光电二极管集成器件单元,所述光电二极管集成器件单元包括Photo Diode单元、NMOS单元和PMOS单元;所述Photo Diode单元设置在所述N阱区,包括在所述N阱区内设置的N+扩散区;所述NMOS单元设置在所述P阱区,所述PMOS单元设置在所述N阱区;所述NMOS单元和PMOS单元均包括源极、漏极和栅极;且所述Photo Diode单元、NMOS单元和PMOS单元均包括设置在所述P型单晶硅衬底上的栅氧化层和场氧化层;在所述N+扩散区和场氧化层表面依次层叠设置有第一介电层、第一金属层、透光层、第二介电层和第二金属层,其中,所述N+扩散区表面的第一介电层厚度小于所述NMOS单元和PMOS单元的第一介电层厚度。
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