[实用新型]发光二极管测试装置有效

专利信息
申请号: 201621187827.9 申请日: 2016-10-28
公开(公告)号: CN206132926U 公开(公告)日: 2017-04-26
发明(设计)人: 王友延;翁思渊;郑智毓 申请(专利权)人: 致茂电子(苏州)有限公司
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26;G01M11/02
代理公司: 北京律诚同业知识产权代理有限公司11006 代理人: 徐金国
地址: 215011 江苏省苏州市苏州高*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 一种发光二极管测试装置,包含承载盘、紫外光膜、至少一探针与紫外光侦测器。承载盘具有透光部。紫外光膜位于承载盘的透光部上。紫外光膜用以承载紫外光发光二极管并供紫外光发光二极管的紫外光穿过。探针位于承载盘上方。探针用以对紫外光发光二极管供电而使其发出紫外光。紫外光侦测器位于承载盘下方。紫外光侦测器用以接收从紫外光膜与承载盘的透光部穿过的紫外光。当紫外光发光二极管朝紫外光侦测器发出紫外光时,紫外光可穿过紫外光膜与承载盘的透光部而传递至紫外光侦测器。
搜索关键词: 发光二极管 测试 装置
【主权项】:
一种发光二极管测试装置,其特征在于,包含:一承载盘,具有一透光部;一紫外光膜,位于该承载盘的该透光部上,用以承载一紫外光发光二极管并供该紫外光发光二极管的一紫外光穿过;至少一探针,位于该承载盘上方,用以对该紫外光发光二极管供电而使其发出该紫外光;以及一紫外光侦测器,位于该承载盘下方,用以接收从该紫外光膜与该承载盘的该透光部穿过的该紫外光。
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