[实用新型]一种半导体检测装置有效
| 申请号： | 201620020936.5 | 申请日： | 2016-01-12 |
| 公开（公告）号： | CN205333836U | 公开（公告）日： | 2016-06-22 |
| 发明（设计）人： | 不公告发明人 | 申请（专利权）人： | 重庆三零三科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R33/07 | 分类号： | G01R33/07 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 402560 重庆市铜梁*** | 国省代码： | 重庆;85 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种半导体检测装置，包括半导体衬底，所述半导体衬底中心设置有绝缘环，所述绝缘环中设置有十字形霍尔元件，所述十字形霍尔元件连接有第一输入端、第二输入端、第一输出端、第二输出端，所述绝缘环两侧分别设置有磁性体安装区，所述磁性体安装区中设置有磁性条。本实用新型结构简单、体积小、重量轻、寿命长、响应速度快、灵敏度高。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 半导体 检测 装置 | ||
【主权项】：
一种半导体检测装置，其特征在于，包括半导体衬底，所述半导体衬底中心设置有绝缘环，所述绝缘环中设置有十字形霍尔元件，所述十字形霍尔元件连接有第一输入端、第二输入端、第一输出端、第二输出端，所述绝缘环两侧分别设置有磁性体安装区，所述磁性体安装区中设置有磁性条。
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