[发明专利]预倾角测定装置及预倾角测定方法有效
| 申请号： | 201611166680.X | 申请日： | 2016-12-16 |
| 公开（公告）号： | CN106918308B | 公开（公告）日： | 2020-10-02 |
| 发明（设计）人： | 杉田一宏;稻野大辅;今坂真子 | 申请（专利权）人： | 大塚电子株式会社 |
| 主分类号： | G01B11/26 | 分类号： | G01B11/26;G02F1/13 |
| 代理公司： | 北京瑞盟知识产权代理有限公司 11300 | 代理人： | 刘昕 |
| 地址： | 日本国大阪府枚*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供能抑制误差的预倾角测定装置及预倾角测定方法。预倾角测定装置(1)具备：透射测定投光部(2)，其向液晶基板(LC)的测定位置(M)照射偏振的测定光；透射测定受光部(3)，其接收测定光的透射光，获取透射光的偏振状态；倾斜测定投光部(41)，其向液晶基板(LC)的测定位置(M)照射倾斜检测用光(L1)；倾斜测定受光部(43)，其接收倾斜检测用光(L1)的反射光(L2)，获取反射光(L2)的受光位置；和控制部(10)，其根据反射光(L2)的受光位置，算出液晶基板(LC)的测定位置(M)的倾角，根据测定光的照射角度、液晶基板(LC)的测定位置(M)的倾角和透射光的偏振状态，算出液晶基板(LC)中所含的液晶分子的预倾角。 | ||
| 搜索关键词： | 倾角 测定 装置 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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