[发明专利]预倾角测定装置及预倾角测定方法

说明书

本发明提供能抑制误差的预倾角测定装置及预倾角测定方法。预倾角测定装置(1)具备：透射测定投光部(2)，其向液晶基板(LC)的测定位置(M)照射偏振的测定光；透射测定受光部(3)，其接收测定光的透射光，获取透射光的偏振状态；倾斜测定投光部(41)，其向液晶基板(LC)的测定位置(M)照射倾斜检测用光(L1)；倾斜测定受光部(43)，其接收倾斜检测用光(L1)的反射光(L2)，获取反射光(L2)的受光位置；和控制部(10)，其根据反射光(L2)的受光位置，算出液晶基板(LC)的测定位置(M)的倾角，根据测定光的照射角度、液晶基板(LC)的测定位置(M)的倾角和透射光的偏振状态，算出液晶基板(LC)中所含的液晶分子的预倾角。

技术领域

本发明涉及一种预倾角测定装置及预倾角测定方法，尤其是涉及一种液晶基板所含的液晶分子的预倾角的测定。

背景技术

在日本特开2001‐356072号公报中，公开一种以下的技术：检测以多个入射角透射液晶单元的光的透光强度，根据多个入射角所对应的表观上的延迟，检测出液晶单元的预倾角。

发明内容

本发明要解决的问题

在上述技术中，由于使用透射光学系统，因此需要在液晶基板的下方照射光或者接收光。对此，首先考虑使用玻璃等透明部件构成支撑液晶基板下面整体的基座。然而，在该情况下，由于光在透明部件的内部发生折射，因此会使光轴产生偏离，而导致发生误差的问题。另外，若在透明部件的内部产生因应力造成的应变，则会存在扰乱光的偏振状态而产生误差的问题。

对此，为了排除这样的透明部件造成的影响，因此还考虑在隔开间隔排列的多个棒部上载置液晶基板，通过棒部的间隙照射光或者接收光。然而，在棒部的间隙处，液晶基板会因自重产生变形，而有可能导致用于计算的光的入射角度与实际的入射角度产生偏离，而产生误差。这样的问题在发展液晶基板的大型化、薄型化的近年变得更显著。

本发明是鉴于上述问题而作出的，其目的在于提供一种能够抑制误差的预倾角测定装置及预倾角测定方法。

用于解决问题的手段

为了解决上述问题，本发明的预倾角测定装置具备：第一投光部，其向液晶基板的测定位置照射偏振的测定光；第一受光部，其接收所述测定光的透射光，获取所述透射光的偏振状态；第二投光部，其向所述液晶基板的所述测定位置照射倾斜检测用光；第二受光部，其接收所述倾斜检测用光的反射光，获取所述反射光的受光位置；倾角计算部，其根据所述反射光的受光位置，算出所述液晶基板的所述测定位置的倾角；以及预倾角计算部，其根据所述测定光的照射角度、所述液晶基板的所述测定位置的倾角和所述透射光的偏振状态，算出所述液晶基板中所含的液晶分子的预倾角。

另外，本发明的预倾角测定方法为：向液晶基板的测定位置照射偏振的测定光；接收所述测定光的透射光，获取所述透射光的偏振状态；向所述液晶基板的所述测定位置照射倾斜检测用光；接收所述倾斜检测用光的反射光，获取所述反射光的受光位置；根据所述反射光的受光位置，算出所述液晶基板的所述测定位置的倾角；以及根据所述测定光的照射角度、所述液晶基板的所述测定位置的倾角和所述透射光的偏振状态，算出所述液晶基板中所含的液晶分子的预倾角。

另外，也可以进一步具备：反射镜，其向所述液晶基板反射来自所述第二投光部的所述倾斜检测用光，向所述第二受光部反射来自所述液晶基板的所述反射光。

另外，也可以使所述第二受光部在至所述液晶基板的距离不同的多个位置处接收所述反射光，所述倾角计算部根据在所述多个位置的各位置处接收到的所述反射光的受光位置，算出所述液晶基板的所述测定位置的倾角。

另外，也可以使所述第二受光部在相对于所述液晶基板的角度不同的多个位置处接收所述反射光，所述倾角计算部根据在所述各位置处接收到的所述反射光的受光位置，算出所述液晶基板的所述测定位置的倾角。