[发明专利]一种光谱测试调整方法及测试调整装置在审
申请号: | 201611148898.2 | 申请日: | 2016-12-13 |
公开(公告)号: | CN106840396A | 公开(公告)日: | 2017-06-13 |
发明(设计)人: | 吕天刚;王跃飞;杜友珍;杨永发 | 申请(专利权)人: | 鸿利智汇集团股份有限公司 |
主分类号: | G01J3/28 | 分类号: | G01J3/28 |
代理公司: | 广州中浚雄杰知识产权代理有限责任公司44254 | 代理人: | 刘各慧 |
地址: | 510890 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明公开了一种光谱测试调整方法和测试调整装置。测试调整方法包括(1)采集被检测的光谱并形成光谱图;(2)在X轴方向上将光谱图划分成二段以上的区域;(3)根将标准光谱图在X轴对应的位置分成与光谱图相等的段数区域;(4)分别计算Si和Si;(5)计算光谱图与标准光谱图在X轴上对应段的面积比值Ai=Si,/Si;(6)计算X值,并与A值进行比较;(7)判断X值是否落入到A值范围内。测试装置为以上测试方法对应的单元。本发明能较为精确的测试光谱,并能进行光谱的调整。 | ||
搜索关键词: | 一种 光谱 测试 调整 方法 装置 | ||
【主权项】:
一种光谱测试调整方法,其特征在于包括如下步骤:(1)采集被检测的光谱并形成光谱图;(2)在X轴方向上将光谱图划分成二段以上的区域;(3)根据光谱图的分段区域将标准光谱图在X轴对应的位置分成与光谱图相等的段数区域;(4)分别计算标准光谱图分段后每段区域的面积Si和采集的光谱图分段后每段区域的面积Si’;(5)计算光谱图与标准光谱图在X轴上对应段的面积比值Ai=Si’/Si;(6)计算X值,其中,(7)判断X值是否落入到B值范围内,其中1‑m<B<1+m,m为预先设定被检测光谱图与标准光谱图之间的偏差值,若X落入到B值范围内,则判断被检测的光谱图与标准光谱图接近,符合使用要求,若X未落入到B值范围内,则判断被检测的光谱图与标准光谱图差别大。
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