[发明专利]一种光谱测试调整方法及测试调整装置在审

专利信息
申请号: 201611148898.2 申请日: 2016-12-13
公开(公告)号: CN106840396A 公开(公告)日: 2017-06-13
发明(设计)人: 吕天刚;王跃飞;杜友珍;杨永发 申请(专利权)人: 鸿利智汇集团股份有限公司
主分类号: G01J3/28 分类号: G01J3/28
代理公司: 广州中浚雄杰知识产权代理有限责任公司44254 代理人: 刘各慧
地址: 510890 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 光谱 测试 调整 方法 装置
【说明书】:

技术领域

发明涉及光谱的测试调整方法和测试调整装置。

背景技术

对于用芯片激发荧光粉的光源或用多种颜色芯片混合形成的光源来说,即使采用同一批芯片和同一批荧光粉,由于同一批芯片可能存在着不一致性,或荧光粉的影响,用同一批芯片和荧光粉或同一批芯片制造出来的光源对应的光谱也会有不同,而光谱的不同会对用户的使用产生不良的影响,因此,在产品出厂前对光谱的测试是非常必要的。

另外,现在LED光源一般都采用蓝光芯片激发荧光粉混合形成白光。质量不好的LED照明产品,LED光谱图中会在蓝光区域内光谱比较强。蓝光过多会对人眼造成影响——主要是蓝光危害,即蓝光对人眼的光化学作用,灼伤视网膜,导致视网膜炎症。

发明内容

本发明的目的是提供一种对光谱的测试调整方法及测试调整装置。利用本发明的技术方案,测试的精度高。

为达到上述目的,一种光谱测试调整方法,包括如下步骤:

(1)采集被检测的光谱并形成光谱图;

(2)在X轴方向上将光谱图划分成二段以上的区域;

(3)根据光谱图的分段区域将标准光谱图在X轴对应的位置分成与光谱图相等的段数区域;

(4)分别计算标准光谱图分段后每段区域的面积Si和采集的光谱图分段后每段区域的面积Si’

(5)计算光谱图与标准光谱图在X轴上对应段的面积比值Ai=Si’/Si

(6)计算X值,其中,

(7)判断X值是否落入到B值范围内,其中1-m<B<1+m,m为预先设定允许被检测光谱图与标准光谱图的偏差值,若X落入到B值范围内,则判断被检测的光谱图与标准光谱图接近,符合使用要求,若X未落入到B值范围内,则判断被检测的光谱图与标准光谱图差别大。

一种光谱测试调整装置,包括:

光谱图采集形成单元,用于采集被检测的光谱并形成光谱图;

光谱图区域划分单元,用于在X轴方向上将光谱图划分成二段以上的区域;

标准光谱图区域划分单元,用于根据光谱图的分段区域将标准光谱图在X轴对应的位置分成与光谱图相等的段数区域;

面积计算单元,用于分别计算标准光谱图分段后每段区域的面积Si和采集的光谱图分段后每段区域的面积Si’

面积比值计算单元,用于计算光谱图与标准光谱图在X轴上对应段的面积比值Ai=Si’/Si

X值计算单元,用于计算X值,其中,

比较判断单元,用于判断X值是否落入到B值范围内,其中1-m<B<1+m,m根据相似度的要求设定,若X落入到B值范围内,则判断被检测的光谱图与标准光谱图接近,符合使用要求,若X未落入到B值范围内,则判断被检测的光谱图与标准光谱图差别大。

上述测试调整方法和测试调整装置,由于对采集的光谱进行分段,同时对标准光谱图进行对应位置的分段,通过计算比较判断采集的光谱是否与标准光谱接近,因此,测试的精度高。

进一步的,测试调整装置还包括调整单元,用于在测试到被检测的光谱图与标准光谱图差别大时,将被检测的光谱图对应的选定区域调整为标准光谱对应的选定区域,通过对选定区域光谱的调整,则能削弱选定光谱的部分,从而使得得到的光谱更加的接近日光光谱,减小光对人眼的影响。

进一步的,调整单元的具体调整方法为:若选定区域为蓝光区域,选定X轴坐标上蓝光区域,然后比较标准光谱与被检测的光谱在该区域上Y轴上的最大值,在该区域内,若标准光谱在Y轴上的最大值小于被检测光谱在Y轴的最大值,则将被检测光谱的Y值乘以预设的I值得到调整后的光谱图,其中I=标准光谱在该区域内Y值的平均值/被检测光谱在该区域内Y值的平均值。这样能削弱被检测光谱图中蓝光区域的光强,从而进一步减少蓝光对人眼的伤害。

进一步的,光谱图区域划分单元在划分光谱图区域时,按照不同的颜色对应的波长进行划分。对不同的波段进行分别划分区域,能进一步提高测试的精度。

进一步的,光谱图区域划分单元在划分光谱图区域时,在同一种颜色对应的波长中划分成二段以上的区域,对同一波段进行进一步细分区域,能进一步提高测试的精确度。

附图说明

图1为被测光谱能量相对百分比分布曲线图。

图2为标准光谱能量相对百分比分布曲线图。

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