[发明专利]一种冷却曲线的拟合方法和系统有效
| 申请号： | 201611126410.6 | 申请日： | 2016-12-09 |
| 公开（公告）号： | CN108614004B | 公开（公告）日： | 2020-03-27 |
| 发明（设计）人： | 杨连乔;刘亚男;徐小雪;张建华 | 申请（专利权）人： | 上海大学 |
| 主分类号： | G01N25/20 | 分类号： | G01N25/20 |
| 代理公司： | 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 | 代理人： | 冯华 |
| 地址： | 200436*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供一种冷却曲线的拟合方法和系统，应用于电子器件的热性能测试，包括：采集预设时间段内的待测电子器件的温度变化曲线；初始化拟合阶数；按照拟合阶数拟合冷却曲线：在预设时间段内初始化时间常数向量；依据温度变化曲线，按照多个预设时间常数提取对应的温度；根据多个预设时间常数和对应提取的温度计算热阻系数，构建冷却曲线；比较构建的冷却曲线和温度变化曲线，获取相关系数；判断相关系数：当相关系数在阈值范围内时，则冷却曲线拟合完成；当相关系数不在阈值范围内时，增加拟合阶数，重新拟合冷却曲线。本发明的拟合方法简单，拟合度高，最大程度地减少了噪声对冷却曲线拟合的影响。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 冷却 曲线 拟合 方法 系统 | ||
【主权项】：
1.一种冷却曲线的拟合方法，其特征在于，应用于电子器件的热性能测试，所述冷却曲线的拟合方法包括：采集预设时间段内的待测电子器件的温度变化曲线；初始化拟合阶数；按照所述拟合阶数拟合所述冷却曲线：在所述预设时间段内初始化时间常数向量；其中，所述时间常数向量由多个预设时间常数组成，且所述时间常数向量中的预设时间常数的数量与拟合阶数相同；依据所述温度变化曲线，按照多个所述预设时间常数提取对应的温度；根据多个所述预设时间常数和对应提取的温度计算热阻系数，构建所述冷却曲线；比较构建的所述冷却曲线和所述温度变化曲线，获取相关系数；判断相关系数：当所述相关系数在阈值范围内时，则所述冷却曲线拟合完成；当所述相关系数不在所述阈值范围内时，增加所述拟合阶数，重新拟合所述冷却曲线。
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