[发明专利]一种冷却曲线的拟合方法和系统

权利要求书

1.一种冷却曲线的拟合方法，其特征在于，应用于电子器件的热性能测试，所述冷却曲线的拟合方法包括：

采集预设时间段内的待测电子器件的温度变化曲线；

初始化拟合阶数；

按照所述拟合阶数拟合所述冷却曲线：

在所述预设时间段内初始化时间常数向量；其中，所述时间常数向量由多个预设时间常数组成，所述预设时间常数为对数时间，且所述时间常数向量中的预设时间常数的数量与拟合阶数相同；

依据所述温度变化曲线，按照多个所述预设时间常数提取对应的温度；

将多个所述预设时间常数和对应的温度代入福斯特串联网络模型计算热阻系数R；其中，T表示待测电子器件的温度，z表示对数时间，R表示热阻系数，τ表示时间常数向量，m表示拟合阶数；依据计算获得的热阻系数R，按照所述福斯特串联网络模型构建所述冷却曲线；

比较构建的所述冷却曲线和所述温度变化曲线，获取相关系数；

判断相关系数：当所述相关系数在阈值范围内时，则所述冷却曲线拟合完成；当所述相关系数不在所述阈值范围内时，增加所述拟合阶数，重新拟合所述冷却曲线。

2.根据权利要求1所述的冷却曲线的拟合方法，其特征在于：所述采集预设时间段内的待测电子器件的温度变化曲线的步骤包括：

对所述待测电子器件施加阶跃功率；

采集预设时间段内，阶跃功率下的所述待测电子器件的所述温度变化曲线。

3.根据权利要求1所述的冷却曲线的拟合方法，其特征在于：所述热阻系数R是通过最小二乘法计算获得的。

4.根据权利要求1所述的冷却曲线的拟合方法，其特征在于：所述阈值范围为0.8-1。

5.一种冷却曲线的拟合系统，其特征在于：应用于电子器件的热性能测试，所述冷却曲线的拟合系统包括：

采集模块，用于采集预设时间段内的待测电子器件的温度变化曲线；

初始化模块，用于初始化拟合阶数和时间常数向量；其中，所述时间常数向量由多个预设时间常数组成，所述预设时间常数为对数时间，且所述时间常数向量中的预设时间常数的数量与拟合阶数相同；

提取子模块，用于依据所述温度变化曲线，按照多个所述预设时间常数提取对应的温度；

计算子模块，用于将多个所述预设时间常数和对应的温度代入福斯特串联网络模型计算热阻系数R；其中，T表示待测电子器件的温度，z表示对数时间，R表示热阻系数，τ表示时间常数向量，m表示拟合阶数；

比较子模块，用于比较构建所述冷却曲线和所述温度变化曲线，获取相关系数；

判断子模块，用于判断所述相关系数：当所述相关系数在阈值范围内时，则所述冷却曲线拟合完成；当所述相关系数不在所述阈值范围内时，增加所述拟合阶数，按照新的所述拟合阶数重新初始化所述时间常数向量，重新拟合所述冷却曲线。

6.根据权利要求5所述的冷却曲线的拟合系统，其特征在于：所述采集模块包括：

功率施加子模块，用于对所述待测电子器件施加阶跃功率；

采集子模块，用于采集预设时间段内，阶跃功率下的所述待测电子器件的所述温度变化曲线。