[发明专利]一种图像传感器性能的替换方法有效
| 申请号： | 201611117546.0 | 申请日： | 2016-12-07 |
| 公开（公告）号： | CN106603943B | 公开（公告）日： | 2019-08-20 |
| 发明（设计）人： | 李琛;皮常明;任铮;张远;顾学强 | 申请（专利权）人： | 上海集成电路研发中心有限公司;成都微光集电科技有限公司 |
| 主分类号： | H04N5/374 | 分类号： | H04N5/374 |
| 代理公司： | 上海天辰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31275 | 代理人： | 吴世华;尹英 |
| 地址： | 201210 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种图像传感器性能的检测方法，包括：获取图像传感器的量子效率、实际像素达到饱和输出时等效至单位面积的图像质量分辨率、饱和输出电压和达到饱和输出时所需的曝光时间；建立本征感光效率与量子效率、实际像素达到饱和输出时等效至单位面积的图像质量分辨率、饱和输出电压、以及达到饱和输出时所需的曝光时间的本征感光效率关系式，其中，本征感光效率与量子效率呈正比，与实际像素达到饱和输出时等效至单位面积的图像质量分辨率呈正比，与饱和输出电压呈正比，与达到饱和输出时所需的曝光时间呈反比；根据本征感光效率关系式，评价图像传感器的性能。本发明利用本征感光效率把CMOS图像传感器的各种参数统一起来。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 图像传感器 性能 替换 方法 | ||
【主权项】：
1.一种图像传感器性能的检测方法，其特征在于，包括：步骤01：获取图像传感器的量子效率、实际像素达到饱和输出时等效至单位面积的图像质量分辨率、饱和输出电压和达到饱和输出时所需的曝光时间；步骤02：建立本征感光效率与量子效率、实际像素达到饱和输出时等效至单位面积的图像质量分辨率、饱和输出电压、以及达到饱和输出时所需的曝光时间的本征感光效率关系式，其中，本征感光效率关系式为：E＝h·QE·log10(n·Vmax/t)，其中，E表示本征感光效率，是用以调整公式的量纲，h是光子，QE是量子效率，n是实际像素达到饱和输出时等效至单位面积的图像质量分辨率，Vmax为饱和输出电压，t为达到饱和输出时所需的曝光时间；本征感光效率与量子效率呈正比，与实际像素达到饱和输出时等效至单位面积的图像质量分辨率呈正比，与饱和输出电压呈正比，与达到饱和输出时所需的曝光时间呈反比；步骤03：根据所述本征感光效率关系式，评价所述图像传感器的性能。
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