[发明专利]一种图像传感器性能的替换方法有效
申请号: | 201611117546.0 | 申请日: | 2016-12-07 |
公开(公告)号: | CN106603943B | 公开(公告)日: | 2019-08-20 |
发明(设计)人: | 李琛;皮常明;任铮;张远;顾学强 | 申请(专利权)人: | 上海集成电路研发中心有限公司;成都微光集电科技有限公司 |
主分类号: | H04N5/374 | 分类号: | H04N5/374 |
代理公司: | 上海天辰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31275 | 代理人: | 吴世华;尹英 |
地址: | 201210 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 图像传感器 性能 替换 方法 | ||
1.一种图像传感器性能的检测方法,其特征在于,包括:
步骤01:获取图像传感器的量子效率、实际像素达到饱和输出时等效至单位面积的图像质量分辨率、饱和输出电压和达到饱和输出时所需的曝光时间;
步骤02:建立本征感光效率与量子效率、实际像素达到饱和输出时等效至单位面积的图像质量分辨率、饱和输出电压、以及达到饱和输出时所需的曝光时间的本征感光效率关系式,其中,本征感光效率关系式为:E=h·QE·log10(n·Vmax/t),其中,E表示本征感光效率,是用以调整公式的量纲,h是光子,QE是量子效率,n是实际像素达到饱和输出时等效至单位面积的图像质量分辨率,Vmax为饱和输出电压,t为达到饱和输出时所需的曝光时间;本征感光效率与量子效率呈正比,与实际像素达到饱和输出时等效至单位面积的图像质量分辨率呈正比,与饱和输出电压呈正比,与达到饱和输出时所需的曝光时间呈反比;
步骤03:根据所述本征感光效率关系式,评价所述图像传感器的性能。
2.根据权利要求1所述的图像传感器性能的检测方法,其特征在于,所述n的获得采用如下过程:首先,利用待检测的CMOS图像传感器拍摄标准分辨率卡,分辨率卡上各种横线、竖线都被图像传感器拍摄到,然后采用预先设定的标准分辨率作为参考,对各种横线、竖线进行比较分析,得到每条横线或竖线对应的分辨率,从而得到整个图像的图像质量分辨率。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海集成电路研发中心有限公司;成都微光集电科技有限公司,未经上海集成电路研发中心有限公司;成都微光集电科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201611117546.0/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种TOF相机降噪方法
- 下一篇:一种智能电视控制方法及系统