[发明专利]一种定子叠片的平整度检测方法

摘要

本发明公开了一种定子叠片的平整度检测方法，包括下述步骤通过包括热处理的制造工序准备出包括多个定子叠片批次；从定子叠片批次中抽出至少一个定子叠片作为检测用叠片；通过分析方法1对定子叠片表面的多个分析部位进行分析来获得分析值，以及将包含在同一批次内作为检测用叠片，由上述检测判断为定子叠片的平整度合格出厂。

主权项

一种对定子叠片的平整度检测方法，其特征在于， 它包括下述步骤： 通过分析方法1对定子叠片表面的多个分析部位进行分析来获得分析值，其中，分析方法1包括因检测对象偏移基准位置越多则用于检测的分析值越小M，因检测对象偏移基准位置越多则用于检测的分析值越大V，和在多个分析部位中，估算出定子叠片易出现不平整的分析部位的数量P；其中：当通过因检测对象偏移基准位置越多则用于检测的分析值越小M时，所有分析部位的分析值按升序排列，从最小值数到第i个部位时的分析值Mi若小于或等于由加权函数规定的正常值的下限值，则判断出检测对象的不平整性存在，若分析值Mi超过由加权函数规定的正常值的下限值，则判断出检测对象不平整性不存在；以及当因检测对象偏移基准位置越多则用于检测的分析值越大V时，所有分析部位的分析值按升序排列，从最大值数到第n个部位时的分析值Vn若大于或等于由加权函数规定的正常值的上限值，则判断出检测对象不平整性存在，若分析值Vn小于由加权函数规定的正常值的上限值，则判断出检测对象不平整性不存在，其中1≤i≤P，1≤n≤P，i、n为自然数。