[发明专利]一种基于RAIM构架的固态硬盘寿命计算的方法及装置有效
| 申请号： | 201611034916.4 | 申请日： | 2016-11-16 |
| 公开（公告）号： | CN106558346B | 公开（公告）日： | 2020-04-07 |
| 发明（设计）人： | 梅岳辉;刘丽丽;刘阳 | 申请（专利权）人： | 杭州华澜微电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C16/34 | 分类号： | G11C16/34;G06F11/00 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 罗满 |
| 地址： | 311215 浙江省杭州市*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明实施例公开了一种基于RAIM构架的固态硬盘寿命计算的方法及装置。其中，方法包括通过获取RAIM构架中各eMMC芯片的已用寿命计算得到其剩余寿命，进一步确定最小剩余寿命，对RAIM构架中n片eMMC的剩余寿命与最小剩余寿命的乘积取类似均方根平均值，即利用公式来实现对固态硬盘寿命的计算。本申请的技术方案实现了RAIM构架下的固态硬盘寿命的计算，避免了因固态硬盘寿命用尽时写入的数据丢失，一定程度上可保证固态硬盘存储的稳定性。此外，本发明实施例还提供了相应的实现装置，进一步使得所述方法更具有实用性，所述装置具有相应的优点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 raim 构架 固态 硬盘 寿命 计算 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种基于RAIM构架的固态硬盘寿命计算的方法，其特征在于，包括：获取RAIM中各eMMC芯片的已用寿命；根据所述各eMMC芯片的已用寿命计算各所述芯片的剩余寿命；在各所述eMMC芯片的所述剩余寿命中确定最小剩余寿命；利用公式计算固态硬盘的寿命，式中，HSSD为所述固态硬盘的寿命，Hi为各所述eMMC芯片的所述剩余寿命，HMin为所述最小剩余寿命，n为所述eMMC芯片的个数。
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