[发明专利]IGBT的失效检测方法和装置有效
| 申请号： | 201610992543.5 | 申请日： | 2016-11-10 |
| 公开（公告）号： | CN108072819B | 公开（公告）日： | 2021-07-30 |
| 发明（设计）人： | 赵研峰;姚吉隆;石磊;刘泽伟 | 申请（专利权）人： | 西门子公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 赵冬梅 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供了IGBT的失效检测方法及装置，其中，包括：检测所述IGBT的当前集电极电流和当前饱和导通压降；基于一个预警温度值下的所述IGBT的第一集电极电流和第一饱和导通压降的第一对应关系，查询所述IGBT的当前集电极电流所对应的第一饱和导通压降；比较所述IGBT的当前饱和导通压降和所述对应的第一饱和导通压降，当所述IGBT的当前饱和导通压降高于所述对应的第一饱和导通压降时，则判断IGBT有失效可能；计算所述IGBT的当前热阻值，当所述IGBT的当前热阻值与预设的初始热阻值的比值高于一个预警系数时，则确定IGBT失效。本发明提供的IGBT的失效检测方法效率更高，维持费用低，并具有更高的可靠性，有利于环保，并降低了功耗。 | ||
| 搜索关键词： | igbt 失效 检测 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.IGBT的失效检测方法，其中，包括如下步骤：S1，检测所述IGBT的当前集电极电流(Ic)和当前饱和导通压降(Vce)；S2，基于一个预警温度值(T0 )下的所述IGBT的第一集电极电流(Ic1 )和第一饱和导通压降(Vce1 )的第一对应关系，查询所述IGBT的当前集电极电流(Ic)所对应的第一饱和导通压降(Vce1 )；S3，比较所述IGBT的当前饱和导通压降(Vce)和所述对应的第一饱和导通压降(Vce1 )，当所述IGBT的当前饱和导通压降(Vce)高于所述对应的第一饱和导通压降(Vce1 )时，则判断IGBT有失效可能。
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