[发明专利]依据测试粒度决定存储器测试覆盖率的系统及其方法在审
| 申请号： | 201610981529.5 | 申请日： | 2016-11-08 |
| 公开（公告）号： | CN108074623A | 公开（公告）日： | 2018-05-25 |
| 发明（设计）人： | 李岩 | 申请（专利权）人： | 英业达科技有限公司;英业达股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 北京国昊天诚知识产权代理有限公司 11315 | 代理人： | 王中 |
| 地址： | 201114 上海市闵*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开一种依据测试粒度决定存储器测试覆盖率的系统及其方法，其通过依据测试粒度产生存储器定址序列后，将所产生的存储器定址序列转换为相对应的物理地址，并依据所产生的物理地址对存储器的全部或部分进行测试的技术手段，可以有效控制存储器的测试覆盖率，并达成提高存储器测试效率的技术功效。 | ||
| 搜索关键词： | 存储器 存储器测试 测试 物理地址 定址 测试覆盖率 覆盖率 技术功效 技术手段 序列转换 有效控制 | ||
【主权项】：
1.一种依据测试粒度决定存储器测试覆盖率的方法，应用于一计算机，该计算机安装至少一存储器模块，其特征在于，该方法至少包含下列步骤：选择一测试粒度；依据该测试粒度产生至少一存储器定址序列；转换各该存储器定址序列为相对应的各物理地址；及依据各该物理地址对各该存储器模块进行测试。
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