[发明专利]具有芯片ID生成电路的半导体器件及多芯片封装有效
申请号: | 201610917264.2 | 申请日: | 2016-10-20 |
公开(公告)号: | CN106971751B | 公开(公告)日: | 2021-07-13 |
发明(设计)人: | 卢亮均;柳济民;金玄基;郑伦在 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
主分类号: | G11C5/02 | 分类号: | G11C5/02 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 钱大勇 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 提供了一种包括芯片标识(ID)生成电路的半导体器件。半导体器件可以是包括多个存储芯片的多芯片封装,并且每个存储芯片包括被配置为选择性地修改相应存储芯片的芯片ID的芯片ID生成电路。芯片ID生成电路通过使用模式寄存器测试存储芯片的芯片ID来确定存储芯片的芯片ID,并且通过使用至少两个熔断组来选择性地编程存储芯片的芯片ID。当存储芯片被确定为有缺陷的芯片或者被选择为停止其使用时,芯片ID生成电路可以阻止存储芯片的芯片ID的输出。 | ||
搜索关键词: | 具有 芯片 id 生成 电路 半导体器件 封装 | ||
【主权项】:
一种包括多个芯片的半导体器件,其中每个芯片包括:包括存储单元阵列的核心区域;被配置为提供外部接口的接口区域;芯片ID生成电路,被配置为选择性地修改相应芯片的核心区域的芯片ID;以及主/从分类电路,被配置为识别相应芯片的接口区域是主芯片还是从芯片。
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