[发明专利]基于Mach-Zehnder和Michelson干涉仪的保偏光纤Verdet常数测量装置及方法

摘要

本发明公开了一种基于Mach‑Zehnder和Michelson干涉仪的保偏光纤Verdet常数测量装置及方法，属于光纤应用技术领域。所述测量装置包括马赫曾德干涉仪以及由迈克尔逊干涉仪组成的波列分析模块。所述测量方法首先选择延时环的长度；然后等长度逐次减小延时环长度；直至参考光路的光与信号光路的光发生干涉，并记录下干涉条纹；施加磁场，再次使参考光路的光与信号光路的光发生干涉，并记录下干涉条纹；计算Verdet常数。本发明可以适用于大多数种类的保偏光纤，还可以扩展至单模光纤，具有普适性。本发明只需要截取一段光纤即可完成测量，测量灵敏度高，有利于工程化应用。

主权项

1.基于Mach‑Zehnder和Michelson干涉仪的保偏光纤Verdet常数测量装置，其特征在于：包括光源、光纤耦合器、光纤起偏器A、光纤起偏器B、保偏耦合器、空间起偏器和延时环，以及由迈克尔逊干涉仪组成的波列分析模块；空间起偏器、光纤起偏器A顺次连接在光纤耦合器和保偏耦合器之间，作为信号光路，并且在所述的空间起偏器和光纤起偏器A的尾纤之间连接待测光纤；延时环和光纤起偏器B顺次连接在光纤耦合器和保偏耦合器之间，作为参考光路；所述光源发出的光进入光纤耦合器后，99％的光进入信号光路，剩余1％的光进入参考光路；信号光路的光首先经过一个空间起偏器，使光变成线偏光进入待测光纤的快轴传播；随后进入长度为L、磁场方向为平行于光的传播方向的磁场区域，然后经过光纤起偏器A，光纤起偏器A的尾纤的偏振轴与待测光纤的快轴在熔接点A处成90°熔接；参考光路包括一个延时环和一个光纤起偏器B，参考光路的光和信号光路的光在分别经过光纤起偏器B和光纤起偏器A后进入保偏耦合器，保偏耦合器的尾纤的偏振轴分别与光纤起偏器A的尾纤在熔接点B处熔接，与光纤起偏器B的尾纤在熔接点C处熔接，在所述的熔接点B和熔接点C处光纤的偏振轴之间都是0°熔接；随后光从保偏耦合器进入波列分析模块。