[发明专利]基于G-W距离的3D图形匹配方法有效
申请号: | 201610902255.6 | 申请日: | 2016-10-17 |
公开(公告)号: | CN106570894B | 公开(公告)日: | 2020-04-14 |
发明(设计)人: | 张洁琳;焦艳艳;罗钟铉;王倩 | 申请(专利权)人: | 大连理工大学 |
主分类号: | G06T7/30 | 分类号: | G06T7/30 |
代理公司: | 大连星海专利事务所有限公司 21208 | 代理人: | 裴毓英 |
地址: | 116024 辽*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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摘要: | 本发明公开了一种基于G‑W距离的3D图形匹配方法,涉及计算机图形、计算机视觉、机器人领域,包括:第一步,对两个原始待匹配的真实图形X和Y进行预处理,提取出顶点坐标及面片信息;第二步,根据第一步所得的数据,利用最远点采样法对每个图形进行采样;第三步,利用第二步所得的采样点代表原来的真实图形,计算两个图形之间的G‑W距离,将其视为二次优化问题的目标函数;第四步,构造松弛约束条件;第五步,将第三步中构建的G‑W距离作为目标函数,根据第四步中松弛的约束条件,采用投影的梯度算法对其进行优化求解;第六步,根据第五步所求得的解进行两个图形之间的匹配。本发明更接近理论最优解,提高了精确率、匹配率及其稳定性,因而更具应用价值。 | ||
搜索关键词: | 基于 距离 图形 匹配 方法 | ||
【主权项】:
一种基于G‑W距离的3D图形匹配方法,其特征在于,所述基于G‑W距离的方法包括:步骤100,对两个原始待匹配的真实图形X和Y进行预处理,提取出顶点坐标及面片信息;步骤200,根据步骤100所得的数据,利用最远点采样法对每个图形进行采样;步骤300,利用步骤200所得的采样点代表原来的真实图形,两个图形的采样点个数可以不同,计算两个图形之间的G‑W距离,将其视为二次优化问题的目标函数;步骤400,构造松弛约束条件,包括以下过程:由联合测度的定义式得出约束条件:Σj=1mμ(xi,yj)=μX(xi)Σi=1nμ(xi,yj)=μY(yj)---(3)]]>其中,U是一个n×m维矩阵,Uij=μ(xi,yj);矩阵U的行和、列和分别为采样点yj和采样点xi的测度,是定值;将约束条件松弛,只保留式(3)中的一部分,得到松弛的约束条件:Σj=1mμ(xi,yj)=μX(xi)---(4)]]>或者约束条件:Σi=1nμ(xi,yj)=μY(yj)---(5)]]>上述两种松弛的约束条件是相互独立的,也是等价的;步骤500,将步骤300中构建的G‑W距离作为目标函数,根据步骤400中松弛的约束条件,采用投影的梯度算法对其进行优化求解;步骤600,根据步骤500所求得的解进行两个图形之间的匹配,包括以下过程:步骤500求出的解是矩阵U的元素U(i,j),其理论意义是图形X中第i个点和图形Y中第j个点为匹配点的概率;对步骤500求出的解按从大到小的顺序排列,选出最大值,也就是匹配可能性最大的一对点,之后将这两个采样点剔除,在剩余的点对中选出下一对匹配点,以此类推一一进行筛选即可。
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