[发明专利]分析物衍生化和增强温和电离的方法在审
| 申请号： | 201610871959.1 | 申请日： | 2016-09-30 |
| 公开（公告）号： | CN106556661A | 公开（公告）日： | 2017-04-05 |
| 发明（设计）人： | M·王;H·F·普雷斯特 | 申请（专利权）人： | 安捷伦科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N30/06 | 分类号： | G01N30/06;G01N30/88 |
| 代理公司： | 北京市嘉元知识产权代理事务所(特殊普通合伙)11484 | 代理人： | 陈静 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 提供分析物的衍生和温和电离方法。该方法包括使衍生剂与包含分析物的样品接触以产生包含经由可裂解键连接的准分子分析物基团和离去基团的改性分析物；并在温和电离条件下使可裂解键选择性断裂，以产生主要的包括准分子分析物基团的第一裂解产物和包括离去基团的第二裂解产物。该方法可以进一步包括在质谱仪中分析所述第一和第二裂解产物，以鉴别对应于准分子分析物基团的离子。还提供使用气相色谱‑质谱(GC‑MS)检测分析物的方法。这些方法可用于各种期望质谱分析样品的应用中。 | ||
| 搜索关键词： | 分析 衍生 增强 温和 电离 方法 | ||
【主权项】：
一种方法，包括：(a)使衍生剂与包含分析物的样品接触，以产生改性分析物，所述改性分析物包含经由可裂解键连接的准分子分析物基团和离去基团；和(b)在温和电离条件下使可裂解键选择性断裂，从而产生主要的包含准分子分析物基团的第一裂解产物，和包含离去基团的第二裂解产物。
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