[发明专利]数模转换器、用于测量数模转换器的误差的方法和系统有效
申请号: | 201610864390.6 | 申请日: | 2016-09-29 |
公开(公告)号: | CN107342769B | 公开(公告)日: | 2020-10-30 |
发明(设计)人: | M·克莱拉;G·恩格尔 | 申请(专利权)人: | 美国亚德诺半导体公司 |
主分类号: | H03M3/00 | 分类号: | H03M3/00 |
代理公司: | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 | 代理人: | 欧阳帆 |
地址: | 美国马*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本公开涉及数模转换器、用于测量数模转换器的误差的方法和系统。数模转换器(DAC)将数字字映射到模拟输出。DAC位可以具有幅值时序误差。这些误差(或者有时称为“非理想性”)导致DAC中动态范围的失真和降级。为了减少这些不利效应,德尔塔‑西格玛模式能够设置成两位单元,基准位单元和校准中的位单元,以执行例如幅值校准和时序偏差校准。德尔塔‑西格玛模式尤其相对于平方波信号有益,平方波信号不能被标定以在具有不同位权重的位单元之间执行幅值并且在频率限于采样时钟的整数分数。 | ||
搜索关键词: | 数模转换器 用于 测量 误差 方法 系统 | ||
【主权项】:
用于测量具有多个DAC单元的数模转换器(DAC)的非理想性的方法,所述多个DAC单元的输出被求和以生成所述DAC的模拟输出,所述方法包括:生成对应于第一DAC单元的权重的第一测试信号以及对应于第二DAC单元的权重的第二测试信号;将所述第一测试信号和所述第二测试信号分别编码成第一测试输入信号和第二测试输入信号;以及将所述第一测试输入信号和所述第二测试输入信号提供给所述第一DAC单元和所述第二DAC单元。
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