[发明专利]一种表面等离子体共振显微成像装置及方法有效
申请号: | 201610822858.5 | 申请日: | 2016-09-13 |
公开(公告)号: | CN106338497B | 公开(公告)日: | 2019-02-22 |
发明(设计)人: | 王伟;王咏婕;李萌 | 申请(专利权)人: | 南京大学 |
主分类号: | G01N21/552 | 分类号: | G01N21/552 |
代理公司: | 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 | 代理人: | 黄天天 |
地址: | 210008 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提出了一种表面等离子体共振显微成像装置,其中,光源、物镜、CCD相机组成SPR显微成像光路,通过在物镜与相机中间设置PS分光镜,通过PS分光镜将光分成S光和P光,并在CCD相机上分开成像;还可以使用移动平台控制待测样品的移动可以降低背景噪音的干扰,可以较大程度的改善基线的平稳程度,从而可以获得清晰的纳米粒子信号。这两种方法可以改善SPR成像过程中光源波动和机械的整体噪声导致信噪比较低的问题,以及由于光学元件瑕疵,光的干涉等光路问题导致成像背景不均匀从而对实验观察和测量纳米粒子变化造成影响的问题。 | ||
搜索关键词: | 一种 表面 等离子体 共振 显微 成像 装置 方法 | ||
【主权项】:
1.一种表面等离子体共振显微成像方法,其特征在于,包括如下步骤:(1)在现有的SPR显微成像装置的显微镜和CCD相机之间安装PS分光镜,调整PS分光镜使得P光成像和S光成像分别在CCD芯片的两端,调整PS分光镜的偏振片的位置使得P光和S光成像的亮度大致相等,然后分别记录实验过程中P光成像与S光成像将选定区域的P光的信号减去S光处的背景可以减去光源和机械引起的噪声;(2)利用移动平台减去背景对实验观察和测量的影响,其中:当纳米粒子比较少的情况下,控制移动平台在A、B两点之间重复跳跃,两点的距离在10微米左右,使纳米粒子在两个位置时信号不要互相干扰即可;用相机记录该过程,并通过数据处理用纳米粒子在B处的图像减去A位置的图像,重复跳跃n次,就可以得到n张图片组成的已减掉背景的图像,如果纳米粒子在该过程中发生变化,就可以得到无背景干扰的信号变化曲线;当纳米粒子较多时,信号互相交错,此时控制移动平台进行由内至外的螺旋式移动,记录移动过程,然后对每一个像素取中位数,这样可以保留背景噪声对像素数值的影响而尽量减小纳米粒子信号对像素的影响,得到一张背景图,用实验记录的图像减去该背景图,就可以得到近乎只有纳米粒子信号的图像。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于南京大学,未经南京大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201610822858.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:感测芯片
- 下一篇:元素激光检测分析仪器及矿物元素分析方法