[发明专利]一种高压真空器件内部放电状态的检测方法有效
| 申请号： | 201610774129.7 | 申请日： | 2016-08-31 |
| 公开（公告）号： | CN106226666B | 公开（公告）日： | 2019-11-12 |
| 发明（设计）人： | 刘斌;张晓梅;杨晓风;陈帅;冯家豪 | 申请（专利权）人： | 成都凯赛尔电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/12 | 分类号： | G01R31/12 |
| 代理公司： | 成都领航高智知识产权代理有限公司 51285 | 代理人： | 王斌 |
| 地址： | 610500 四川*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 高压真空器件作为一种重要设备已成为工业发展不可或缺的一部分。一般高压真空器件都是封闭结构，无法直接判断内部情况。本发明利用根据高压真空器件在加高压条件下，内部零件有场致发射点或放电点，逸出的电子在电场作用下将会形成高速电子流轰击阳极端材料产生X射线这一特点，提供一种高压真空器件内部放电状态的检测方法，判断所测高压真空器件内部是否放电，并准确判断出放电点对应的位置。研发人员可通过此方法了解高压真空器件内部放电状态，通过改进生产工艺和器件结构，提高高压真空器件性能和质量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 高压 真空 器件 内部 放电 状态 检测 方法 | ||
【主权项】：
1.一种高压真空器件内部放电状态的检测方法，其特征在于，包括：步骤一：胶片布置，在高压真空器件外表面放置X射线胶片；步骤二：位置标识，在X射线胶片上对应标识出高压真空器件表面位置；步骤三：接通高压，对高压真空器件持续通入10kV以上的高压，续通入高压时间为30s～5min，只对所述高压真空器件的X射线管加高压，未接通X射线管灯丝；步骤四：胶片冲洗；步骤五：结果分析，对冲洗后的胶片进行分析，并判断放电点的相对位置。
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