[发明专利]一种利用纤芯失配干涉结构测量折射率的方法在审
| 申请号： | 201610741672.7 | 申请日： | 2016-08-26 |
| 公开（公告）号： | CN106404718A | 公开（公告）日： | 2017-02-15 |
| 发明（设计）人： | 何巍;祝连庆;娄小平;董明利;李红;姚齐峰;辛璟焘 | 申请（专利权）人： | 北京信息科技大学 |
| 主分类号： | G01N21/45 | 分类号： | G01N21/45;G01D5/353 |
| 代理公司： | 北京律恒立业知识产权代理事务所(特殊普通合伙)11416 | 代理人： | 顾珊,庞立岩 |
| 地址： | 100085 北京市海淀区清*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种利用纤芯失配干涉结构测量折射率的方法，所述方法包括如下步骤a)搭建纤芯错位熔接干涉结构，所述纤芯错位熔接干涉结构包括依次连接的泵浦源，波分复用器，增益光纤，第一单模光纤，第二单模光纤，第三单模光纤和光谱分析仪；b)对第一单模光纤，第二单模光纤和第三单模光纤进行光纤错位熔接；c)计算待测溶液的折射率针对浓度未知的溶液，在温度与标定温度相同的条件下，将纤芯失配结构浸泡于溶液中，得到纤芯失配结构对外界折射率条件变化的灵敏度，通过逐渐增加浓度的大小，记录梳状谱移动的长度，根据漂移量通过以下公式可以推断出该溶液的折射率λ＝aR+b，其中R为折射率浓度，λ为变化波长，a，b为常数。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 利用 失配 干涉 结构 测量 折射率 方法 | ||
【主权项】：
一种利用纤芯失配干涉结构测量折射率的方法，所述方法包括如下步骤：a)搭建纤芯错位熔接干涉结构，所述纤芯错位熔接干涉结构包括依次连接的泵浦源，波分复用器，增益光纤，第一单模光纤，第二单模光纤，第三单模光纤和光谱分析仪；b)对第一单模光纤，第二单模光纤和第三单模光纤进行光纤错位熔接；c)计算待测溶液的折射率：针对浓度未知的溶液，在温度与标定温度相同的条件下，将纤芯失配结构浸泡于溶液中，得到纤芯失配结构对外界折射率条件变化的灵敏度，通过逐渐增加浓度的大小，记录梳状谱移动的长度，得到梳状谱随浓度的变化曲线，选取测量点波长，此时光谱波长曲线发生漂移，根据漂移量通过以下公式可以推断出该溶液的折射率：λ＝aR+b，其中R为折射率浓度，λ为变化波长，a，b为常数。
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