[发明专利]一种太阳能级多晶硅片表面处理方法在审

专利信息
申请号: 201610731965.7 申请日: 2016-08-26
公开(公告)号: CN107785455A 公开(公告)日: 2018-03-09
发明(设计)人: 包剑;余刚;张涛 申请(专利权)人: 镇江荣德新能源科技有限公司
主分类号: H01L31/18 分类号: H01L31/18;H01L21/304
代理公司: 南京瑞弘专利商标事务所(普通合伙)32249 代理人: 张耀文
地址: 212200 江苏省镇*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种太阳能级多晶硅片表面处理方法,采用粒度直径在12‑16nm的粗碳化硼对多晶硅片表面进行机械粗研磨;采用粒度直径在1.5‑2.5nm的细碳化硼对经过粗研磨的多晶硅片表面进行机械细研磨;将经过细研磨后的多晶硅片中放入抛光液中进行腐蚀抛光,去除多晶硅片表面的研磨产生的损伤层;用强碱弱酸盐对得到的多晶硅片表面表面残留的抛光液中和掉;将得到的多晶硅片放入旋转桶内进行边缘抛光;用强碱弱酸盐对得到的多晶硅片表面表面残留的抛光液中和掉;对得到的多晶硅片进行清洗和烘干。本发明得到的多晶硅片硬度高、表面光滑。
搜索关键词: 一种 太阳 能级 多晶 硅片 表面 处理 方法
【主权项】:
一种太阳能级多晶硅片表面处理方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤1,采用粒度直径在12‑16nm的粗碳化硼对多晶硅片表面进行机械粗研磨;步骤2,采用粒度直径在1.5‑2.5nm的细碳化硼对经过粗研磨的多晶硅片表面进行机械细研磨;步骤3,将经过细研磨后的多晶硅片中放入抛光液中进行腐蚀抛光,去除步骤2中多晶硅片表面的研磨产生的损伤层;所述抛光液为硝酸、氢氟酸、磷酸的混合液;步骤4,用强碱弱酸盐对步骤3得到的多晶硅片表面表面残留的抛光液中和掉;步骤5,将步骤4得到的多晶硅片放入旋转桶内进行边缘抛光;步骤6,用强碱弱酸盐对步骤3得到的多晶硅片表面表面残留的抛光液中和掉;步骤7,对步骤6得到的多晶硅片进行清洗和烘干。
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