[发明专利]金属层中小丘的检测方法和装置在审
| 申请号： | 201610665646.0 | 申请日： | 2016-08-12 |
| 公开（公告）号： | CN106353326A | 公开（公告）日： | 2017-01-25 |
| 发明（设计）人： | 肖亮;张勋泽;朴祥秀 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司;合肥京东方光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88;G01N21/95 |
| 代理公司： | 北京天昊联合知识产权代理有限公司11112 | 代理人： | 柴亮,张天舒 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供一种金属层中小丘的检测方法和装置，属于小丘检测技术领域，其可解决现有的金属层中小丘的检测方法复杂、效率低、难以用于实际生产的问题。本发明的金属层中小丘的检测方法包括采集所述金属层的光学图像；调整所述光学图像的对比度和亮度；将调整后的所述光学图像转换为黑白图像；对所述黑白图像进行分析，以所述黑白图像中的黑色像素作为对应小丘的点。 | ||
| 搜索关键词： | 金属 小丘 检测 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种金属层中小丘的检测方法，其特征在于，包括：采集所述金属层的光学图像；调整所述光学图像的对比度和亮度；将所述调整后的光学图像转换为黑白图像；对所述黑白图像进行分析，以所述黑白图像中的黑色像素作为对应小丘的点。
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