专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种高密度清洗设备-CN202211139683.X在审
  • 邵良武;张福刚;张勋泽;凌龙兴;杨昊;王召波 - 京东方科技集团股份有限公司;武汉京东方光电科技有限公司
  • 2022-09-19 - 2022-12-23 - H01L21/67
  • 本发明公开了一种高密度清洗设备,该设备中设置有用于传送基板的清洗通道;清洗通道沿传送方向包括依次连接的液洗段和干燥段;在液洗段设置有液洗组件,在干燥段设置有干燥组件和导流组件;干燥组件被配置为,输出用于干燥基板的第一气流;第一气流的输出方向与基板的传送平面之间呈第一夹角,第一夹角为锐角;第一气流在基板上形成干燥作用区,以干燥液洗组件在基板表面产生的液体;导流组件被配置为,输出用于引导第一气流方向的第二气流;第二气流与第一气流相交,以增加干燥作用区的宽度和/或干燥作用区气流对基板表面液体的剪切应力。本发明的高密度清洗设备能够增强对基板表面的干燥效率,降低了Open类不良的发生率。
  • 一种高密度清洗设备
  • [发明专利]一种间隙测量尺-CN201610371316.0有效
  • 肖亮;丁冬;张勋泽;丁文兵;关召军;宣增志 - 京东方科技集团股份有限公司;合肥京东方光电科技有限公司
  • 2016-05-30 - 2019-10-29 - G01B5/14
  • 本发明涉及测量设备领域,公开一种间隙测量尺,包括主尺身,主尺身具有与其延伸方向平行的底面、和位于其一端且与其延伸方向垂直的第一测量面,主尺身上设有沿其延伸方向分布的主刻度线;副尺身,副尺身的一端形成与其延伸方向垂直的第二测量面,副尺身的延伸方向与主尺身的延伸方向平行;副尺身可沿其延伸方向滑动地安装于主尺身,且副尺身形成第二测量面的一端可自主尺身形成第一测量面的端面伸出主尺身。本发明提供的间隙值测量尺在进行测量作业时,可提高主尺身的延伸方向与待测间隙的宽度方向之间的平行度,降低主观误差,使测量值更为精准,提高测量操作效率。
  • 一种间隙测量
  • [发明专利]一种靶材余量测量装置-CN201710442063.6有效
  • 边松林;张勋泽;肖亮;宣增志;关召军;丁文兵;张方馨 - 京东方科技集团股份有限公司;合肥京东方光电科技有限公司
  • 2017-06-13 - 2019-04-02 - G01B5/06
  • 本发明涉及真空磁控镀膜技术领域,公开一种靶材余量测量装置,该靶材余量测量装置包括:主体结构,设有沿第一方向排列的多个测量轨道;每个测量轨道沿第二方向延伸,第二方向垂直于第一方向;多个顶针,与多个测量轨道一一对应;每个顶针沿第二方向延伸,且第一端限位于与其对应的测量轨道内;每个顶针可沿测量轨道自由移动、且可部分伸出测量轨道;多个滑块,与多个测量轨道一一对应;每个滑块可沿与其对应的测量轨道滑动地设置于测量轨道内、且限位于顶针的第一端一侧;每个滑块与测量轨道之间的静摩擦力大于其自身重力;主尺,设置于主体结构上,且设有沿第二方向排列的刻度线。上述靶材余量测量装置的测量步骤很简单,且测量结果比较精确。
  • 一种余量测量装置
  • [发明专利]校正治具-CN201310652050.3有效
  • 王召波;朴祥秀;张勋泽;朱昊;张卓然;刘飞;张文俊 - 合肥京东方光电科技有限公司;京东方科技集团股份有限公司
  • 2013-12-05 - 2014-04-02 - H01L21/66
  • 本发明公开了一种校正治具,该校正治具包括:校正架,所述校正架包括:校正基台、支撑架和校正顶针,所述校正基台水平放置,所述校正基台上设置有限位槽,所述支撑架设置于所述校正基台上,所述校正顶针竖直穿过所述支撑架,所述校正顶针位于所述限位槽的正上方,所述限位槽用于固定靶材支撑基座或中间连杆,所述校正顶针竖直向下运动至所述靶材支撑基座的凹槽内以对所述凹槽的异常处进行校正,本发明提供校正治具,其操作简单、校正精确度高,同时校正过程中所耗费的时间短、校正工作量小。
  • 校正

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