[发明专利]芯片端口频率测试方法有效
| 申请号： | 201610615663.3 | 申请日： | 2016-07-29 |
| 公开（公告）号： | CN106291099B | 公开（公告）日： | 2019-10-25 |
| 发明（设计）人： | 余琨;刘远华;汤雪飞;王华;牛勇 | 申请（专利权）人： | 上海华岭集成电路技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R23/02 | 分类号： | G01R23/02;G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人： | 智云 |
| 地址： | 201203 上海市浦*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种芯片端口频率测试方法，包括：定义所述芯片的一输出管脚的测试向量的频率，使该频率符合自动测试装置(ATE)的测试频率；运行其他测试向量；以及运行所述输出管脚的测试向量，以进行所述芯片端口频率测试。本发明为了实现在测试向量频率超出所使用ATE在频率测试模式下可提供最高频率的情况下，通过对测试向量进行拆分，以及并发测试技术实现芯片端口输出频率的测试，解决了现有方案一中需升级硬件，额外花费的问题，解决现有方案二中需外挂其他测试设备，测试时间长，且硬件连接不方便的问题。本发明在ATE硬件不变的条件下，利用并发测试技术实现芯片端口较高频率的测试，提高了较高芯片端口输出频率测试便捷性与测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 端口 频率 测试 方法 | ||
【主权项】：
1.一种芯片端口频率测试方法，其特征在于，包括：定义芯片的期望测试频率，在所述期望测试频率下，所述芯片端口有一输出频率；定义所述芯片的一输出管脚的测试向量的频率，使该频率符合自动测试装置的测试频率，所述自动测试装置的测试频率为该自动测试装置在频率测试模式下的频率；运行其他测试向量，使所述芯片端口输出所述输出频率；以及运行所述输出管脚的测试向量，以进行所述芯片端口频率测试。
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