[发明专利]用于RF-PWM调制器的相位延迟的间接测量的方法

摘要

本公开涉及用于RF‑PWM调制器的相位延迟的间接测量的方法。延迟测量系统用于测量在RF‑PWM调制器中引入的RF‑PWM信号的相位延迟，其中RF‑PWM信号包括采样频率以及至少一个载波周期，RF‑PWM信号在至少一个载波周期中具有符号。延迟测量系统包括：第一相位调制器电路，生成具有基于RF‑PWM信号的第一周期和第二周期的第一BPS信号，该BPS信号的第一周期在其中具有所述符号且该BPS信号的第二周期具有所述符号的180度反相版本；第二相位调制器电路，生成具有第一周期和第二周期的第二BPS信号，该BPS信号的第一周期在其中具有所述符号且该BPS信号的第二周期具有所述符号的180度反相版本；检测器电路，基于第一BPS信号或第二BPS信号确定RF‑PWM信号的相位延迟且输出相位延迟。

主权项

1.一种延迟测量系统，用于测量在射频‑脉宽调制器中引入的射频‑脉宽调制(RF‑PWM)信号的相位延迟，其中所述RF‑PWM信号包括采样频率以及至少一个载波周期，以及其中所述RF‑PWM信号在所述至少一个载波周期中具有符号，所述延迟测量系统包括：第一相位调制器电路，被配置用于生成具有基于所述RF‑PWM信号的第一周期和第二周期的第一二进制相移(BPS)信号，其中所述第一BPS信号的所述第一周期在其中具有所述符号并且所述第一BPS信号的所述第二周期具有所述符号的180度反相版本；第二相位调制器电路，被配置用于生成具有第一周期和第二周期的第二二进制相移(BPS)信号，其中所述第二BPS信号的所述第一周期在其中具有所述符号并且所述第二BPS信号的所述第二周期具有所述符号的180度反相版本；以及检测器电路，被配置用于基于所述第一BPS信号或所述第二BPS信号确定所述RF‑PWM信号的所述相位延迟并且输出所述相位延迟。