[发明专利]一种利用F-P干涉仪增强光泵浦效率的装置及方法有效

专利信息
申请号: 201610364329.5 申请日: 2016-05-26
公开(公告)号: CN106099627B 公开(公告)日: 2019-03-05
发明(设计)人: 李莹颖;汪之国;袁杰;金世龙;罗晖;展翔;廖旭博;姜鹏 申请(专利权)人: 中国人民解放军国防科学技术大学
主分类号: H01S3/03 分类号: H01S3/03;H01S3/094
代理公司: 长沙正奇专利事务所有限责任公司 43113 代理人: 马强
地址: 410073 湖*** 国省代码: 湖南;43
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摘要: 发明涉及一种应用于原子传感器件光泵浦结构设计,属于光学结构设计领域。本发明针对低功率激光器条件下,提高光泵浦效率的问题,设计了利用F‑P干涉仪改进的光泵浦结构。在本发明提出的光泵浦结构中,激光在F‑P干涉仪的作用下多次通过原子气室,实际上通过原子气室的光强远大于激光器出射光强。本发明结构简单,在低功率激光驱动下获得了较高的光泵浦效率,对于实现低功耗高性能的原子传感器具有有重要意义。
搜索关键词: 一种 利用 干涉仪 增强 光泵浦 效率 装置 方法
【主权项】:
1.一种利用F‑P干涉仪增强光泵浦效率的装置,其特征在于:所述装置包括激光器(1)、起偏器(2)、四分之一波片(3)、扩束系统(4)、F‑P干涉仪(5)、包含碱金属气体、惰性气体和缓冲气体的原子气室(6)、聚焦透镜(7)、光电探测器(8)、处理系统(9)及F‑P干涉仪控制器(10);所述激光器(1)出射的激光经过起偏器(2)和四分之一波片(3)后转化为圆偏振光,通过由透镜组组成的扩束系统(4)扩束后进入F‑P干涉仪(5)内,原子气室(6)置于F‑P干涉仪(5)轴向中心位置;F‑P干涉仪控制器(10)输出锯齿波控制F‑P干涉仪(5)腔长;通过F‑P干涉仪(5)的光信号经过聚焦透镜(7)后被光电探测器(8)接收并反馈给处理系统(9),处理系统(9)计算后控制F‑P干涉仪控制器(10)输出锯齿波的偏置和幅值;F‑P干涉仪(5)、光电探测器(8)、F‑P干涉仪控制器(10)均在处理系统(9)的控制下同步工作。
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