[发明专利]一种具有复合电子阻挡层结构的紫外发光二极管有效

专利信息
申请号: 201610327711.9 申请日: 2016-05-17
公开(公告)号: CN105977356B 公开(公告)日: 2019-02-05
发明(设计)人: 张雄;梁宗文;崔一平 申请(专利权)人: 东南大学
主分类号: H01L33/14 分类号: H01L33/14
代理公司: 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 代理人: 柏尚春
地址: 210096*** 国省代码: 江苏;32
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种具有复合电子阻挡层结构的紫外发光二极管,该发光二极管自下而上依次包括衬底(101)、低温AlN成核层(102)、高温AlN缓冲层(103)、n型AlGaN层(104)、AlxGa1‑xN/AlyGa1‑yN多量子阱有源区(105)、由p‑AlsIntGa1‑s‑tN层(1061)和p‑AlzGa1‑zN层(1062)组成的p‑AlsIntGa1‑s‑tN/p‑AlzGa1‑zN复合电子阻挡层(106)。本发明可解决传统的电子阻挡层结构在最后一个量子阱势垒和电子阻挡层之间会形成寄生电子反型层的问题。
搜索关键词: 一种 具有 复合 电子 阻挡 结构 紫外 发光二极管
【主权项】:
1.一种具有复合电子阻挡层结构的紫外发光二极管,其特征在于:该发光二极管自下而上依次包括衬底(101)、低温AlN成核层(102)、高温AlN缓冲层(103)、n型AlGaN层(104)、AlxGa1‑xN/AlyGa1‑yN多量子阱有源区(105)、由p‑AlsIntGa1‑s‑tN层(1061)和p‑AlzGa1‑zN层(1062)组成的p‑AlsIntGa1‑s‑tN/p‑AlzGa1‑zN复合电子阻挡层(106),其中z>y>x,0≤s,t≤1,z代表p‑AlzGa1‑zN层中Al组分的高低,y代表量子阱势垒AlyGa1‑yN层中Al组分的高低,x代表量子阱AlxGa1‑xN层中Al组分的高低,s代表p‑AlsIntGa1‑s‑tN层中Al组分的高低,t代表p‑AlsIntGa1‑s‑tN层中In组分的高低;p型AlGaN层(107),p型GaN欧姆接触层(108),在p型GaN欧姆接触层(108)上引出的p型欧姆电极(109),在n型AlGaN层(104)上引出的n型欧姆电极(110);所述p‑AlsIntGa1‑s‑tN/p‑AlzGa1‑zN复合电子阻挡层(106)的厚度在10~100nm之间;禁带宽度Eg(AlyGa1‑yN)<Eg(AlsIntGa1‑s‑tN)<Eg(AlzGa1‑zN);所述p‑AlsIntGa1‑s‑tN/p‑AlzGa1‑zN复合电子阻挡层(106)中p‑AlsIntGa1‑s‑tN层(1061)中Al,In,Ga组分是渐变的或均匀的,相应地,其禁带宽度是递增/递减的或者不变的;p‑AlzGa1‑zN(1062)中Al和Ga组分也是渐变的或均匀的,相应地,其禁带宽度是递增/递减的或者不变的;所述p‑AlsIntGa1‑s‑tN/p‑AlzGa1‑zN复合电子阻挡层(106)设置在AlxGa1‑xN/AlyGa1‑yN多量子阱有源区(105)之上或者替代有源区的多量子阱中最后一个量子阱势垒。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于东南大学,未经东南大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201610327711.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top