[发明专利]一种LED芯片保护层的制备方法以及一种LED芯片有效
申请号: | 201610311188.0 | 申请日: | 2016-05-11 |
公开(公告)号: | CN105914280B | 公开(公告)日: | 2018-10-12 |
发明(设计)人: | 杨乐;徐平;李玉云;李胤强 | 申请(专利权)人: | 湘能华磊光电股份有限公司 |
主分类号: | H01L33/44 | 分类号: | H01L33/44;H01L33/00 |
代理公司: | 长沙七源专利代理事务所(普通合伙) 43214 | 代理人: | 欧颖;吴婷 |
地址: | 423038 湖*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | 本发明提供了一种LED芯片保护层的制备方法以及一种LED芯片,该保护层的制备方法为将已经完成台面刻蚀、透明导电层制备和PN电极蒸镀的LED芯片放入PECVD沉积腔中在其表面上进行n步沉积二氧化硅薄膜,所述n步沉积得到的相应薄膜形成二氧化硅保护层,各步沉积的薄膜的厚度相等,2≤n≤4。本发明在LED芯片的外表面上分多步进行沉积二氧化硅薄膜,在重复沉积二氧化硅薄膜的步骤中通过适当增大SiH4流量和射频功率来提高二氧化硅保护层的致密性,增加LED芯片抵抗外界机械划伤和酸碱的腐蚀;同时,改善LED芯片全反射现象,提高了出光量。 | ||
搜索关键词: | 一种 led 芯片 保护层 制备 方法 以及 | ||
【主权项】:
1.一种LED芯片保护层的制备方法,其特征在于,将已经完成台面刻蚀、透明导电层制备和PN电极蒸镀的LED芯片放入抽真空的PECVD沉积腔中在其表面上进行n步沉积二氧化硅薄膜,所述n步沉积得到的相应薄膜形成二氧化硅保护层,各薄膜的厚度相等,2≤n≤4,所述n步沉积包括:a)、在温度保持200~250℃的条件下,向沉积腔中通入SiH4、N2和N2O,SiH4流量Q1为400~600sccm、N2流量为400~500sccm、N2O流量为1000~1200sccm,腔体压力为850~1000mTorr,射频功率P1为50~80w,沉积20~60秒;b)、向沉积腔中通入SiH4、N2和N2O,重复沉积二氧化硅薄膜,第n步沉积时SiH4流量Qn为aQn‑1、N2流量为400~500sccm、N2O流量为1000~1200sccm,腔体压力850~1000mTorr,射频功率Pn为bPn‑1,每步沉积20~60秒;其中,1.1≤a≤1.3,1.05≤b≤1.25;c)、将上述步骤制得的LED芯片放入烘箱烘烤,在所述LED芯片表面上形成二氧化硅保护层;上述步骤中,前一步沉积完之后,间隔10~20秒再进行下一步沉积。
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