[发明专利]一种四元芯片的GaP粗糙表面的制备方法有效

专利信息
申请号: 201610274404.9 申请日: 2016-04-28
公开(公告)号: CN105895750B 公开(公告)日: 2018-08-17
发明(设计)人: 陈康;李晓明;申加兵;刘琦 申请(专利权)人: 山东浪潮华光光电子股份有限公司
主分类号: H01L33/00 分类号: H01L33/00
代理公司: 济南金迪知识产权代理有限公司 37219 代理人: 吕利敏
地址: 261061 *** 国省代码: 山东;37
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摘要: 一种四元芯片的GaP粗糙表面的制备方法,包括对所述GaP表面依次进行喷砂粗化处理和湿法腐蚀处理,以获得GaP粗糙出光表面,GaP粗糙出光表面的粗糙度范围:0.5μm<Ra<2μm。本发明通过对GaP表面进行喷砂处理得到有空洞、缺陷的GaP表面,再通过常规的化学腐蚀方法对GaP表面进行粗化,解决了GaP不易腐蚀的难题,得到了更稳定的GaP粗糙出光面,提升了四元芯片的出光效率。该方法操作简单,易进行规模化生产,更好的提升了芯片的品质,稳定了芯片的质量。
搜索关键词: 一种 芯片 gap 粗糙 表面 制备 方法
【主权项】:
1.一种四元芯片的GaP粗糙表面的制备方法,其特征在于,该方法包括对所述GaP表面依次进行喷砂粗化处理和湿法腐蚀处理,以获得GaP粗糙出光表面,GaP粗糙出光表面的粗糙度范围:0.5μm<Ra<2μm;所述喷砂粗化处理中使用的砂砾为:直径为12500目‑15000目的碳化硅颗粒;对所述GaP表面喷砂粗化5‑20分钟,喷砂法线与所述GaP表面的夹角为70‑90°,喷砂速度0.125‑0.5cm/分钟,喷砂砂砾密度为0.5‑2g/cm2。
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