[发明专利]一种对保偏光纤缺陷点测量中的伪干涉峰鉴别方法

摘要

本发明提供的是一种对保偏光纤缺陷点测量中的伪干涉峰鉴别方法。通过改变待测光纤与起偏器/检偏器之间的对轴角度，分别实现对干涉信号中不同特征干涉峰的抑制和放大；不同对轴角度条件下，将测量干涉峰与预测干涉峰位置‑幅值的理论公式进行比对，得到干涉信号中的特征干涉峰的幅值、阶次等信息；通过4次不同对轴角度测量，即可鉴别出其中的伪干涉峰和代表真实缺陷点的干涉峰。本发明中的操作方法简单有效，有助于从分布式干涉测量中准确地估计保偏光纤缺陷点信息，可以广泛应用于保偏光纤中缺陷点的精确测量。

主权项

一种对保偏光纤缺陷点测量中的伪干涉峰鉴别方法，其特征是：(1)明确待测光纤中含有缺陷点的个数和相应位置，分别记为X1,X2,…,Xj,…,XJ；(2)测量待测光纤中由缺陷点分开的区间光纤长度记为l1,l2,…,lj,…,lJ+1；(3)根据关系Sj＝lj×Δnf，计算出区间光纤对应的光程差S1,S2,…,Sj,…,SJ，Δnf是保偏尾纤的线性双折射；(4)根据待测光纤具体的缺陷点个数和区间光纤长度，由分析公式预测特征干涉峰的位置‑幅值关系；(5)将待测光纤的两端接入白光干涉仪测试系统，两端分别与白光干涉仪测试系统中的起偏器、检偏器的保偏尾纤焊接；(6)调整待测光纤的两端与起偏器、检偏器的保偏尾纤的输入‑输出对轴角度θ1‑θ2为 45°～0°；(7)启动白光干涉仪测试系统，获得第1次干涉信号，其横坐标为扫描光程数值OPD，纵坐标为偏振串扰幅度P；(8)对比测量干涉信号中特征干涉峰与45°～0°条件下预测干涉峰的位置和幅值；(9)如果测量干涉峰数量多于预测干涉峰的数量，则执行步骤(10)，否则执行步骤(14)；(10)分别调整改变待测光纤与起偏器、检偏器的保偏尾纤的输入‑输出对轴角度θ1‑θ2为0°～0°、0°～45°、45°～45°；(11)启动白光干涉仪测试系统，获得另外3次对轴角度下的测量干涉信号；(12)对比0°～0°、0°～45°、45°～45°测量干涉信号与45°～0°测量干涉信号，找出幅值增大的干涉峰；(13)分别将幅值增大的干涉峰，与对应0°～0°、0°～45°、45°～45°条件下预测干涉峰的幅值进行对比；(14)得到第1次干涉信号即45°～0°条件下的所有测试干涉峰的含义，识别出伪干涉峰以及代表真实耦合情况的干涉峰；所述白光干涉仪测试系统包括，宽谱光源(201)发出的光依次通过隔离器(202)、起偏器(203)、待测光纤器件(21)、检偏器(214)，与马赫泽德干涉仪(22)连接，进而连接差分探测装置(222和223)，最后与干涉信号检测与处理装置(23)连接；待测器件(21)是含有多个缺陷点(207、209和210)的保偏光纤，在这些缺陷点处，保偏光纤的两个正交偏振模式之间均发生能量耦合，即偏振模式耦合；其中：1)宽谱光源(201)的中心波长1550nm、半谱宽度大于50nm、出纤功率大于3mW，光源光谱纹波的峰值幅度为‑60dB；2)隔离器(202)工作波长1550nm、插入损耗0.8dB；3)起偏器(203)、检偏器(214)的工作波长为1550nm，消光比大于20dB，插入损耗小于3dB；4)两个光纤耦合器(215、221)的工作波长为1310/1550nm，分光比50：50，插入损耗小于0.5dB；5)两个光纤环行器(216、217)为三端口环行器，回波损耗大于55dB，插入损耗1dB；6)两个准直透镜(218、219)的工作波长为1550nm，二者间距大于200mm，插入损耗为2.0dB；7)扫描台(220)为步进电机驱动扫描，丝杠导程为200mm，扫描台面上装有双面反射镜；8)两个光电探测器(222、223)为InGaAs光敏材料，探测范围为1100～1700nm，光电转换的响应度大于0.8。